10- معرفی طیف نگار الکترونی افت انرژیEELS

10- معرفی طیف نگار الکترونی افت انرژیEELS
سطح مقاله

پیشرفته 2
نویسندگان

فاطمه احمدپور
( نویسنده )

محمد هادی مقیم
( نویسنده )

کلمات کلیدی

مسابقه ملی فناوری نانو
امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۲,۸۳۱
  • بازدید این ماه ۳۹۹
  • بازدید امروز ۱۱۱
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۴۰
  • تعداد افراد شرکت کننده ۶
 
 

10- معرفی طیف نگار الکترونی افت انرژیEELS

طیف‎نگاری الکترونی افت انرژی (Electron energy loss spectroscopy) به عنوان تکنیکی با کیفیت بالا محسوب می‎شود که برای آنالیز نمونه‎های نازک مورد استفاده قرار می‎گیرد. اساس این روش بر مبنای برخوردهای غیرالاستیکی است که در طی برخورد الکترون‎ها به نمونه ایجاد می‎شود. بعضی از الکترون‎هایی که متحمل پراکنش غیرالاستیک می‎شوند، بدون اینکه در مسیر حرکت آن‎ها تغییر قابل توجهی به وجود آید، مقداری از انرژی خود را از دست می‎دهند. بنابراین آن‎ها در باریکه الکترونی عبوری به همراه الکترون‎های پراکنش نیافته حضور خواهند داشت. مقدار افت انرژی که الکترون‎ها در طی پراکنش غیرالاستیک دارند، تابعی از عمل پراکنش تحمیلی است. این الکترون‎ها اصطلاحاً الکترون‎های افت انرژی EELS نامیده شده و جهت تصویر یا میکروآنالیز شیمیایی می‎توانند مورد استفاده قرار گیرند. بنابراین الکترون‎های ورودی که مقداری از انرژی خود را در طی این فرایند از دست می‎دهند، منبع اطلاعات EELS  هستند. برای هر نوع اتمی که برهمکنش می‎دهد، مقدار مشخصی انرژی از دست می‌رود. با اندازه‌گیری انرژی الکترون پراکنش یافته و کسر آن از انرژی الکترون ورودی، مقدار انرژی از دست رفته قابل محاسبه است. این افت انرژی مشخص‎کننده این است که چه نوع اتمی با الکترون ورودی برهمکنش داده، که در نهایت امکان شناسایی نمونه فراهم می‌شود [1].

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- پراکندگی غیرالاستیک
1-1- پراکندگی فونون
2-1- پراکندگی پلاسمون
3-1- برانگیختگی تک الکترون ظرفیت
4-1- برانگیختگی مدار داخلی
2- طیف‌نگار
3- طیف آنالیز کمی
4- اطلاعات مورد استفاده از روش EELS
5- معایب روش EELS

نتیجه‌گیری


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - پیروز مرعشی، سعید کاویانی، حسین سرپولکی و علیرضا ذوالفقاری، اصول و کاربرد میکروسکوپ¬های الکترونی و روش¬های نوین آنالیز ابزار شناسایی دنیای نانو، چاپ اول، دانشگاه علم و صنعت ایران، 1383.
۲ - مرتضی رزم آرا، مبانی و کاربرد میکروسکوپ‎های الکترونی و رو‌ش‌های آنالیز پیشرفته، مشهد، ارسلان، 1384.
۳ - R. F. Egerton, “Electron Loss Energy Spectroscopy in Electron Microscope”, 2nd Edition, plenum press, (1996).
ارسال نظر