کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی - بخش دوم

کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی - بخش دوم
سطح مقاله

پیشرفته 1
کلمات کلیدی

میکروسکوپ نیروی اتمی
کاربرد میکروسکوپ نیروی اتمی
زبری
سختی
توپوگرافی
اندازه‌گیری ذرات
امتیاز کاربران

۵ امتیاز از ۵ (۱ رای)

کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی - بخش دوم

میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری قدرتمند در بررسی و مطالعه‌ی گستره‌ی متنوعی از مواد در مقیاس نانو است. به کمک این میکروسکوپ، بررسی ویژگی‎های ساختاری و فیزیکی مواد نظیر زبری، سختی، توپوگرافی و اندازه‌ی ذرات میسر است. تهیه‌ی تصویر از ذرات نانویی به‎ویژه مولکول‎های زیستی از قابلیت‎های AFM است که باعث به‎کارگیری گسترده‌ی این فناوری در حوزه‎های مختلف علوم می‌شود. همچنین این دستگاه قابلیت ایجاد تغییر و جابه‏ جایی ذرات و سطوح را دارا است.
در مقاله اول تحت عنوان کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی به بررسی 10 مورد از کاربردهای AFM پرداخته شد.

این مقاله شامل سرفصل های زیر است:

 1-11- اندازه‎گیری نیروی چسبندگی سطح نانومواد
1-12- اندازه‌گيري مدول‌ الاستيسيته مواد نانو ساختار
1-13- مطالعه‌ی رفتار حرارتی مواد در ابعاد نانومتر
 1-14- ثبت صدای حشرات زنده
2- کاربرد در صنعت
3- صنعت تولید دارو
4- صنعت نیمه‎هادی‏ها
5- متالورژی و خوردگی
6- کاتالیست‎ها
7- پزشکی قانونی
8- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
9- نتیجه‏ گیری


 


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - صدیقه صادق حسنی، جمال الدین افضلی و مریم خسروی، میکروسکوپ نیروی اتمی،1393.
۲ - Tak, Y.-H.; Kim, K.-B.; Park, H.-G.; Lee, K.-H.; Lee, J.-R. (2002). Criteria for ITO (indium-tin oxide) thin film as the bottom electrode of an organic light emitting diode. Thin Solid Films, 411 (1), 12–16.
۳ - Bischel, M. S.; VanLandingham, M. R.; Eduljee, R. F.; Gillespie, J. W.; Schultz, J. M., On the use of Nano scale indentation with the AFM in the identification of phases in blends of linear low density polyethylenehigh density polyethylene. Journal of Materials Science 2000, 35 (1), 221–28.
۴ - Kuwahara, Y., Comparison of the surface structure of the tetrahedral sheets of muscovitephlogopite by AFM. PhysicsChemistry of Minerals 2001, 28 (1), 1–8.
۵ - Jaschke, M.; Schonherr, H.; Wolf, H.; Butt, H.-J.; Bamberg, E.; Besocke, M. K.; Ringsdorf, H., Structure of alkylperfluoroalkyl disulfideazobenzenethiol monolayers on gold (111) Revealed by atomic force microscopy. Journal of Physical Chemistry 1996, 100 (6), 2290–2301.
۶ - Ebrahimpoor Ziaie, E.; Rashtcian, D.; Sadegh Hassani, S. (2008). Atomic force microscopy as a tool for comparing lubrication behavior of lubricants. Material science: An Indian journal, 4 (2), 111-115.
۷ - 7- Vinelli, A.; Primiceri, E.; Brucale, M.; Zuccheri, G.; Rinaldi, R.; Samori, B. (2008). Sample preparation for the quick sizing of metal nanoparticles by atomic force microscopy. Microscopy ResearchTechnique, 71 (12), 870–79.
۸ - Garcia, P.; Eaton, P.; Geurts, H. P. M.; Sousa, M.; Gameiro, P.; Feiters, M. C.; Nolte, R. J. M.; Pereira, E.; de Castro, B., AFMelectron microscopy study of the unusual aggregation behavior of metallosurfactants based on iron(II) complexes with bipyridine ligands. Langmuir 2007, 23 (15), 7951–57.
۹ - Yap, H. W.; Lakes, R. S.; Carpick, R. W., Mechanical instabilities of individual multiwalled carbon nanotubes under cyclic axial compression. Nano Letters 2007, 7 (5), 1149–54.
۱۰ - He, J. H.; Ho, S. T.; Wu, T. B.; Chen, L. J.; Wang, Z. L., Electricalphotoelectrical performances of Nano-photodiode based on ZnO nanowires. Chemical Physics Letters 2007, 435 (1–3), 119–22.
۱۱ - Erts, D.; Polyakov, B.; Dalyt, B.; Morris, M. A.; Ellingboe, S.; Boland, J.; Holmes, J. D., High density germanium nanowire assemblies: contact challengerical characterization. Journal of Physical Chemistry B 2006, 110 (2), 820–26.
۱۲ - Braga, P. C.; Ricci, D., Differences in the susceptibility of Streptococcus pyogenes to rokitamycinerythromycin A revealed by morphostructural atomic force microscopy. Journal of Antimicrobial Chemotherapy 2002, 50 (4), 457–60.
۱۳ - Jonas, K.; Tomenius, H.; Kader, A.; Normark, S.; Romling, U.; Belova, L.; Melefors, O., Roles of curli, celluloseBapA in Salmonella biofilm morphology studied by atomic force microscopy. BMC Microbiology 2007, 7, 70.
۱۴ - Murphy, M. F.; Lalor, M. J.; Manning, F. C. R.; Lilley, F.; Crosby, S. R.; Randall, C.; Burton, D. R., Comparative study of the conditions required to image live human epithelialfibroblast cells using atomic force microscopy. Microscopy ResearchTechnique 2006, 69 (9), 757–65.
۱۵ - Domke, J.; Dannohl, S.; Parak, W. J.; Muller, O.; Aicher, W. K.; Radmacher, M., Substrate dependent differences in morphologyelasticity of living osteoblasts investigated by atomic force microscopy. ColloidsSurfaces B: Bio interfaces 2000, 19 (4), 367–79.
۱۶ - K. Tomankova, H. Kolarova1, M. Vujtek, H. Zapletalova, Study of Cancer Cells Used Atomic Force Microscopy, Modern ResearchEducational Topics in Microscopy, 2007, 23-28.
۱۷ - AFM imaging of type I collagen fibrils AN00955, https://www.nanosurf.com
۱۸ - Julie A. Last, Paul Russell, Paul F. Nealey,Christopher J. Murphy, The Applications of Atomic Force Microscopy to Vision Science, IOVS, December 2010, Vol. 51, No. 12.
۱۹ - صدیقه صادق‌حسني، زهرا ثبات (1386). كاربرد ميكروسكوپ نيروي اتمي در نانو ليتوگرافي – ماهنامه‌ی فناوري نانو سال ششم – شماره‌ی 125 - صفحات 535-738.
۲۰ - Sadegh Hassani, S., Sobat, Z., Studying of various nanolithography methods by using Scanning Probe Microscope. Int .J. Nano .Dim 2011, 1(3), 159-175.
۲۱ - X.N. Xie , H.J. Chung, C.H. Sow, A.T.S. Wee, Nanoscale materials patterningengineering by atomic force microscopy nanolithography, Materials ScienceEngineering R 54 (2006) 1–48.
۲۲ - chicawa, K., Yamada, M."Atomic resolution for non-equilibrium structures in the steady statefor structural transformations at the interface between NaClwater", J. Phys. Condens. Matter, 8, 1996, 150-160.
۲۳ - Sugiyama Ono, S.; Matsuoka, O. & Yamamoto, S. (2001). Surface structures of zeolites studied by atomic force microscopy. Micropor. Mesopor. Mat. 48, 103-110.
۲۴ - Louey, M.D.; Mulvaney, P.; tewart, P.J.S. (2001). haracterisation of adhesional properties of lactose carriers using atomic force microscopy, Journal of PharmaceuticalBiomedical Analysis 25, 559-567.
۲۵ - G. Pucci, M. P. De Santo, G. Carbone, R. Barberi G. Pucci, M. P. De Santo, G. Carbone, R. Barberi, A novel method to prepare probes for atomic force spectroscopy, Digest Journal of NanomaterialsBiostructures, 2006, 1(3): 99-103.
۲۶ - Choi, D.; Jeon, J.; Lee, P.; Hwang, W.; Lee, K.; Park, H. (2007). Young’s modulus measurements of nanohoneycomb structures by flexural testing in atomic force microscopy", J. Composite Structures 79, 548–553.
۲۷ - Mege, F., Volpi, F., Verdier, M. (2009). "Mapping of elastic modulus at sub-micrometer scale with acoustic contact resonance", J. Microelectronic Engineering, Article in Press, Corrected Proof, Note to users.
۲۸ - ارنست ماير، هانست ژوزف هاگ، رولند بنوتيز، ترجمه‌ی عليرضا ذوالفقاري، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا و امید سیفی (1385). «ميكروسكوپ پروبي روبشي، آزمايشگاهي روي نوك سوزن».
۲۹ - Geiss, R.H.; Kopycinska-Müller M.; Hurley, D.C. (2005).Wear of Si Cantilever Tips used in Atomic Force Acoustic Microscopy", J. Microsc Microanal 11(Suppl 2), 364-365.
۳۰ - Price D. M.; Reading M.; Hammiche A.; Pollock H. M. (1999). Micro-thermal analysis: scanning thermal microscopylocalised thermal analysis, International Journal of Pharmaceutics, 192, 85–96.
۳۱ - Lever T. J.; Price D. M. (1998). Using microthermal analysis to characterize the nanoworld, American Laboratory, 30 (16) 15-18.
۳۲ - Pollock H. M.; Hammiche A. (2001). Micro-thermal analysis: techniquesapplications J. Phys. D: Appl. Phys. 34, R23–R53.
۳۳ - Fonseca, L.; Pérez-Murano F.; Calaza C.; Rubio R.; Santander J.; Figueras E.; Gràcia I.; Canéa C.; Morenob M.; Marcob S. (2004). AFM thermal imaging as an optimization tool for a bulk micromachined thermopile, SensorsActuators A, 115, 440–446.
۳۴ - Bhattacharyy, A.; Bhaumik, A.; Usha Rani, P.; Mandal, S.; Epidi, T. T. (2010). Nano-particles - A recent approach to insect pest control, African Journal of Biotechnology Vol. 9(24), pp. 3489-3493, 14.
۳۵ - Uroš Maver, Tomaž Velnar , Miran Gaberšcˇek , Odon Planinšek , Matjaž Finšgar, Recent progressive use of atomic force microscopy in biomedical applications, Trends in Analytical Chemistry 80 (2016) 96–111
۳۶ - S. Wu et al. SMM Imaging of Dopant Structures of Semiconductor Devices Application
۳۷ - Gerd Kaupp, Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical MicroscopyNanoscratching Application to RoughNatural Surfaces, Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2006.
۳۸ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2017 و شماره 20
ارسال نظر