دانلود ها

میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری روبشی: تصویربرداری و آنالیز


Scanning Transmission Electron Microscopy
Imaging and Analysis
 
Springer انتشارات
2011 سال انتشار
اول ویرایش
775 تعداد صفحات

Stephen J. Pennycook
Peter D. Nellist

نویسندگان/ویراستارها


 
 

فهرست کتاب:

1- A Scan Through the History of STEM
2- The Principles of STEM Imaging
3- The Electron Ronchigram
4- Spatially Resolved EELS: The Spectrum-Imaging Technique and Its Applications
5- Energy Loss Near-Edge Structures
6- Simulation and Interpretation of Images
7- X-Ray Energy-Dispersive Spectrometry in Scanning Transmission Electron Microscopes
8- STEM Tomography
9- Scanning Electron Nanodiffraction and Diffraction Imaging
10- Applications of Aberration-Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy to Complex Oxide Materials
11- Application to Ceramic Interfaces
12- Application to Semiconductors
13- Nanocharacterization of Heterogeneous Catalysts by Ex Situ and In Situ STEM
14- Structure of Quasicrystals
15- Atomic-Resolution STEM at Low Primary Energies
16- Low-Loss EELS in the STEM
17- Variable Temperature Electron Energy-Loss Spectroscopy
18- Fluctuation Microscopy in the STEM

 



ارسال نظر

 
تعداد نظرات : ۱

  • مهدی پور

    ۱۴۰۲/۰۵/۱۵
    عالی ممنون از سایت خوبتون

    مدیر سیستم

    ۱۴۰۲/۰۵/۱۵
    وقت بخیر
    رضایتتون باعث خوشحالی ماست
میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری روبشی: تصویربرداری و آنالیز
 
  • هزینه فایل رایگان
  • نوع فایل pdf
  • حجم فایل ۲۶.۹۹ مگابایت
  • تعداد دانلود ۲۵۷
 
 
امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)