چگونگی رفع اختلالات تصویری ایجاد شده در میکروسکوپ الکترونی روبشی
چگونگی رفع اختلالات تصویری ایجاد شده در میکروسکوپ الکترونی روبشی
امروزه دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی به‌عنوان یکی از مهم‌ترین روش‌های بررسی مواد مختلف شناخته شده‌است که توانایی بررسی مواد شامل موادزیستی، پلیمرها، فلزات، سرامیک‌ها و غیره را دارا بوده و در گستره وسیعی از زمینه‌های مختلف کاربرد دارد. با پیشرفت روش‌ها و ابزارهای الکترونیکی، استفاده از این دستگاه حتی آسان‌تر هم شده‌است و هر شخصی با کسب آموزش جزیی، توانایی کار با این دستگاه را خواهد داشت. البته، ممکن است در ابتدای کار با دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی، تصاویر مطلوب حاصل نشود که باید اختلالات جزیی که در حین کار به‌وجود می‌آید، توسط کاربر دستگاه رفع شده تا نتیجه مطلوب حاصل شود. در این مقاله تلاش بر این است که به یک‌سری از اختلالات رایجی که در حین کار با دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی به‌وجود می‌آید و همچنین چگونگی رفع این اختلالات پرداخته شود تا به حداکثر نتیجه مطلوب از نمونه برسیم. علاوه‌بر این، تصاویر مربوط به هر یک از اشکالاتی که به‌وجود می‌آید، آورده می‌شود تا به درک بهتر مطالب کمک کند. امید است که این مقاله کمکی باشد برای کسانی که در حال حاضر از دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی استفاده می‌کنند و یا در آینده استفاده خواهند کرد.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیراست:
1- مقدمه
2- لزوم رفع اختلالات تصویری ایجاد شده در دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی
3- انواع اختلالات تصویری ایجاد شده در میکروسکوپ الکترونی روبشی
1-3- تاثیر برهمکنش میان نمونه و الکترون‌ها بر کیفیت تصوی
2-3- تاثیر عوامل خارجی
3-3-تاثیر اشکالات ابزاری
4- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
5-نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیراست:
1- مقدمه
2- لزوم رفع اختلالات تصویری ایجاد شده در دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی
3- انواع اختلالات تصویری ایجاد شده در میکروسکوپ الکترونی روبشی
1-3- تاثیر برهمکنش میان نمونه و الکترون‌ها بر کیفیت تصوی
2-3- تاثیر عوامل خارجی
3-3-تاثیر اشکالات ابزاری
4- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
5-نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Imaging guidelines for SCANNING ELECTRON MICROSCOPY, Tony Laudate, JEOL USA Inc., Peabody, Massachusetts.
۲ - EM Course –Introduction to SEM, Professor Rodney Herring, Canada Foundation Innovation.
۳ - A Guide to Scanning Microscope Observation, JEOL Serving Advanced Technology.
۴ - Scanning Electron Microscope A to Z, Basic knowledge for using the SEM, JEOL Serving Advanced Technology.
۵ - 1. M.T. Postek, K.S. Howard, A.H. JohnsonK.L. McMichael, Scanning Electron Microscopy: A Student’s Handbook, (Ladd Research Ind., Inc. Williston, VT., 1980).
۶ - J.I. Goldstein, H. Yakowitz, D.E. Newbury, E. Lifshin, J.W. Colby, J.W. ColbyJ.R. Coleman, Pratical Scanning Electron Microscopy: ElectronIon Microprobe Analysis, edited by J.I. GoldsteinH. Yakowitz (Pelnum Press. New York, N.Y., 1975).
۷ - 7- SEM Q & A, JEOL Serving Advanced Technology.
۸ - Simulated SEM Images for Resolution Measurement, P. CIZMAR, A. E. VLADA´ R, B. MING,M. T. POSTEK, NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDSTECHNOLOGY, SCANNING VOL. 30, 2008.
۹ - Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron MicroscopyX-Ray Microanalysis, Patrick Echlin, Cambridge Analytical Microscopy, UK, 2009.
۱۰ - 10- Bob Hafner, Scanning Electron Microscopy Primer, University of Minnesota, 2007.
۱۱ - http://www4.nau.edu/microanalysis/Microprobe-SEM/Signal_Detection.html.
۱۲ - http://fp.optics.arizona.edu/Nofziger/OPTI%20200/Lecture%2028/L28P3.htm.
۱۳ - http://www.emsdiasum.com/microscopy/products/sem/scintillator.aspx.
۱۴ - http://www.mse.iastate.edu/microscopy.
۱۵ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2014 و شماره 5
