میکروسکوپی پروبی روبشی از گرافن-بخش سوم

میکروسکوپی پروبی روبشی از گرافن-بخش سوم
سطح مقاله

پیشرفته 2
کلمات کلیدی

گرافن
میکروسکپ پروبی روبشی SPM
STM
AFM
امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)

میکروسکوپی پروبی روبشی از گرافن-بخش سوم

موادي با خواص بنیادی جدید که دانسته‌های ما را به چالش می‌کشاند، همواره مورد توجه محققین هستند. اگر ویژگی‌های بدیع این مواد به عرصه مهندسی دستگاه‌ها کشانده شده و کاربرد در خور توجهی بیابند، آنگاه دامنه این تحقیقات دیگر حد و مرزی نخواهد داشت. گرافن، شکل دو بعدی کربن، این مسیر را پیموده است. گرافن موضوع تعداد زیادی از تحقیقات نظری و عملی بوده است تا اینکه از سال 2004، هنگامی که از یک روش ساده و ظریف برای ساخت گرافن تک لایه‌ای استفاده شد، زمینه برای انجام تحقیقات بسیار گسترده فراهم گردید. روش‌های بسیار زیادی موازی با این روش برای ساخت گرافن توسعه یافته است. با آشکار شدن ویژگی‌های ساختاری و الکترونیکی منحصربه فرد گرافن، مشخص گردید که روش میکروسکوپی پروبی روبشی یک روش جالب و فوق‌العاده برای مطالعه این ترکیب است. در این مقاله مروری، ‌روش میکروسکوپی پروبی روبشی و چگونگي استفاده از این روش به‌عنوان یک ابزار ضروری برای درک خواص گرافن و تحقیقات گرافن در آینده، بررسي شده‌است.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- طیف‌سنجی دو لایه‌ای
2- نتيجه‌گيري

این مقاله از مجموعه مقالات فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2014 شماره 6 برگرفته شده است. برای دسترسی به مراکز خدمات دهنده آنالیزهای STM ،SPM و AFM به ترتیب، بر روی  لینک های زیر کلیک کنید.
 
     

لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید

منابـــع و مراجــــع
۱ - Msc. Physical chemistry, Research institute of Petroleum Industry, CatalysisNanotechnology Research Division
۲ - Msc. Physics solid state, MaterialsEnergy Research Center (MERC), semiconductors department, material characterization laboratory
۳ - Msc. Analytical chemistry, Research institute of Petroleum Industry, CatalysisNanotechnology Research Division
۴ - Iran Nanotechnology Laboratory Network, SPM Experts work group.
ارسال نظر