میکروسکوپي نیروی کلوین در بررسي خواص نانومواد-بخش اول
میکروسکوپي نیروی کلوین در بررسي خواص نانومواد-بخش اول
ميكروسكوپ نيروي كلوين شاخه‌اي از ميكروسكوپ پروبي روبشي است كه تصويربرداري پتانسيل سطحي محدوده وسيعي از مواد را در مقياس نانومتر ممكن مي‌كند. در اين روش، تفاوت پتانسيل تماسي موضعي بين سوزن هادي AFM و سطح نمونه اندازه‌گيري مي‌شود. در اين روش نقشه تابع كار يا پتانسيل سطح نمونه با توان تفكيك بالا ترسيم مي‌شود. ميكروسكوپ نيروي پروب كلوين یک روش منحصر به‌فرد برای تشخیص و شناسایی ویژگی‌های الکتریکی، فلزات و نیمه‌هادی‌ها مي‌باشد. با اين روش اطلاعات بسيار مهمي درباره توزيع پتانسيل سطحي بدست مي‌آيد كه در توسعه عملكرد وسايل نوري و الكتريكي بسيار با اهميت است.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاريخچه
3- میکروسکوپ نیروی اتمی
4- اصول روش کلوین
5- اصول کار میکروسکوپ پروبي نیروی کلوین و حالت‌های مختلف آن
6- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
7-نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاريخچه
3- میکروسکوپ نیروی اتمی
4- اصول روش کلوین
5- اصول کار میکروسکوپ پروبي نیروی کلوین و حالت‌های مختلف آن
6- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
7-نتیجه‌گیری
جهت دانلود بر روی فایل صوتی کلیک راست کنید و Save As را انتخاب کنید
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - [1] M. Nonnenmacher, M.P. Oboyle, H.K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 58 (1991) 2921.
۲ - 2) W. Melitz, J.Shen, A. C. Kummel, S.b Lee, Surface Science Reports 66 (2011) 1–27.
۳ - 3) www.tut.fi.
۴ - 4) C. Sommerhalter, T. Glatzel, T.W. Matthes, A. Jager-Waldau, M.C. Lux-Steiner, Appl. Surf. Sci. 157 (2000) 263.
۵ - 5) C.Barth , C.R. Henry, Nanotechnology 17 (2006) S155.
۶ - 6) T. Glatzel, S. Sadewasser, R. Shikler, Y. Rosenwaks, M.C. Lux-Steiner, Mat. Sci.Eng. B 102 (2003) 138.
۷ - 7) G.H. Enevoldsen, T. Glatzel, M.C. Christensen, J.V. Lauritsen, F. Besenbacher, Phys. Rev. Lett. 100 (2008) 236104.
۸ - 8) T. Arai, M. Tomitori, Phys. Rev. Lett. 93 (2004) 256101.
۹ - 9) K. Okamoto, K. Yoshimoto, Y. Sugawara, S. Morita, Appl. Surf. Sci. 210 (2003).128.
۱۰ - 10) S. Kitamura, M. Iwatsuki, Appl. Phys. Lett. 72 (1998) 3154.
۱۱ - S. Kitamura, K. Suzuki, M. Iwatsuki, C.B. Mooney, Appl. Surf. Sci. 157 (2000) 222.
۱۲ - K. Okamoto, Y. Sugawara, S. Morita, Appl. Surf.Sci.188 (2002) 381.
۱۳ - A. Sasahara, C.L. Pang, H. Onishi, J. Phys. Chem. B 110 (2006) 17584.
۱۴ - S. Sadewasser, P. Jelinek, C.K. Fang, O. Custance, Y. Yamada, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita, Phys. Rev. Lett. 103 (2009) 266103.
۱۵ - K. Nakayama, T. Shiota, Surf. Interface Anal. 40 (2008) 885.
۱۶ - Y. Sugawara, T. Uchihashi, M. Abe, S. Morita, Appl. Surf. Sci. 140 (1999) 371.
۱۷ - A. Huijser, J. Vanlaar, T.L. Vanrooy, Surf. Sci. 62 (1977) 472.
۱۸ - T. Miyazaki, K. Kobayashi, K. Ishida, S. Hotta, T. Horiuchi, K. MatsushigeH. Yamada; J.Appl.Phys., 2005, 97, 124503
۱۹ - L. Burgi, H. SirringhausR. H. Friend, Appl.Phys. Lett., 2002, 80, 2913.
۲۰ - K. P. Puntambekar, P. V. Pesavento,C. D. Frisbie, Appl. Phys.Lett., 2003, 83, 5539.
۲۱ - V. Palermo, M. Palma, P. Samori, Adv. Mater. 2006, 18, 145.
۲۲ - D. Fichou, J. Mater. Chem. 2000, 10, 571.
۲۳ - D. Byron, A. Mataharu, R. Wilson, G. Wright, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1995, 265, 61.
۲۴ - V. de Cupere, J. Tant, P. Viville, R. Lazzaroni, W. Osikowicz, W. R. Salaneck, Y. H. Geerts, Langmuir, 2006, 22, 7798.
۲۵ - A. Abbadie, G. Hamaide, D. Mariolle, M. Chaupin, F. Brunier, E. Martinez,J. Mähliß .,J. Appl. Phys. 111, 064912 (2012)
۲۶ - Patrick Mesquida, Andreas Stemmer; Microelectronic Engineering 61–62 (2002) 671–674
۲۷ - 27) Z. Leonenko . Langmuir 22:10135-10139
۲۸ - 28) UMUT BOSTANCI;DEVELOPMENT OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY SYSTEMKELVIN PROBE MICROSCOPY SYSTEM FOR USE IN SEMICONDUCTOR NANOCRYSTAL CHARACTERIZATION, THESIS, AUGUST 2007
۲۹ - Y. Rosenwaks, R. Shikler, T. Glatzel, S. Sadewasser, Phys. Rev. B 70 (2004) 085320
۳۰ - S. Saraf, Y. Rosenwaks ; Surface Science 574 (2005) L35–L39
۳۱ - S. Belaidi, P. Girard, G. Leveque, J. Appl. Phys. 81 (1997) 1023
۳۲ - T.Takahashi , T. Matsumoto, S. Ono ; Ultramicroscopy109(2009)963–967
۳۳ - W.Richard Bowen,N.Hilal, Atomic Force Microscopy ,Elsevier 1st edition 2009
۳۴ - Principles of the Kelvin Probe Force Microscopy, I.R. Jankov, I.D. Goldman, R.N. Szente, Revista Brasileira de Ensino de Fsica, vol. 22, no. 4, Dezembro, 2000.
۳۵ - 35) Leanna C. Giancarloand George W. Flynn ,Annual Review of Physical Chemistry Vol. 49: 297-336, 1998.
۳۶ - 36) R. Shikler, T. Meoded, N. Fried, B. Mishori, Y. Rosenwaks, J. Appl. Phys. 86 (1999) 107.
۳۷ - 37) S.V. Kalinin, A. Gruverman (Eds.), Scanning Probe Microscopy, Springer, New York, 2007.
۳۸ - 38) T. Glatzel, S. Sadewasser, M.C. Lux-Steiner, Appl. Surf. Sci. 210 (2003) 84.
۳۹ - 39) U. Zerweck, C. Loppacher, T. Otto, S. Grafstrom, L.M. Eng, Phys. Rev. B 71 (2005) 125424.
۴۰ - L. Nony, F. Bocquet, C. Loppacher, T. Glatzel, Nanotechnology 20 (2009) 264014.
۴۱ - 41) F. Krok, K. Sajewicz, J. Konior, M. Goryl, P. Piatkowski, M. Szymonski, Phys. Rev. B 77 (2008) 235427.
۴۲ - 42) C. Barth, C.R. Henry, J. Phys. Chem. C 113 (2009) 247.
۴۳ - 43) H.J. Leamy, J. Appl. Phys. 53 (1982) R51.
۴۴ - S. Gunther, B. Kaulich, L. Gregoratti, M. Kiskinova, Prog. Surf. Sci. 70 (2002) 187.
۴۵ - 45) J.C. Gonzalez, K.L. Bunker, P.E. Russell, Appl. Phys. Lett. 79 (2001) 1567.
۴۶ - H. Luth, Solid Surfaces, InterfacesThin Films, 4th ed., Springer, Berlin, 2001.
۴۷ - W. Monch, Semiconductor SurfacesInterfaces, 2nd ed., Springer, Berlin, 1995.
۴۸ - 48) D.P. Woodruff, T.A. Delchar, Modern Techniques of Surface Science, Cambridge University Press, Cambridge, 1986.
۴۹ - 49) S. Sadewasser, C. Leendertz, F. Streicher, M.C. Lux-Steiner, Nanotechnology 20 (2009).
۵۰ - K.Yagi, M. Fujihira , Applied Surface Science 157:405-411
۵۱ - T.Goodman .Langmuir 20:3684:3689.
۵۲ - C.R. Henry, Appl. Surf. Sci. 164 (2000) 252.
۵۳ - M. Goryl, J.J. Kolodziej, F. Krok, P. Piatkowski, B. Such, M. Szymonski, Microelectron. Eng.81 (2005) 394.
۵۴ - H.G. Boyen, et al., Science 297 (2002) 1533.
۵۵ - L. Gross, F. Mohn, P. Liljeroth, J. Repp, F.J. Giessibl, G. Meyer, Science 324
۵۶ - C. Barth, C.R. Henry, Appl. Phys. Lett. 89 (2006) 252119.
۵۷ - M.R. Hoffmann, S.T. Martin, W.Y. Choi, D.W. Bahnemann, Chem. Rev. 95 (1995) 69.
۵۸ - 58) A. L. Linsebigler, G.Q. Lu, J.T. Yates, Chem. Rev. 95 (1995) 735.
۵۹ - 59) A. Sasahara, K.Hiehata, H. Onishi, Catal. Surv. Asia 13 (2009) 9.
۶۰ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2013 و شماره 2
