میکروسکوپ تونلی روبشی STM- بخش اول
میکروسکوپ تونلی روبشی STM- بخش اول
در تقسیم‌بندی میکروسکوپ‌های پروبی روبشی، اولین میکروسکوپی که مورد بحث قرار خواهد گرفت، میکروسکوپ تونلی روبشی است. در این مقاله ضمن بیان اصول دستگاهی، نحوه عملکرد آن و مدهای کاری قابل استفاده توضیح داده می‌شوند. با توجه به پدیده کوانتومی تونلزنی، برخی روابط محاسباتی حوزه مذکور نیز مطرح می‌شود. همچنین در این مقاله به معرفی کلیات مطرح در این دسته از میکروسکوپ‌ها پرداخته خواهد شد.
این مقاله شامل سرفص‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- دامنه کاربرد میکروسکوپ تونلی رویشی
4- سیستم دستگاهی میکروسکوپ تونلی رویشی
5- نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Bharat Bhushan, "Springer Handbook of Nanotechnology", USA, Springer, (2004).
۲ - علیرضاذوالفقاری،محمدالماسی،پیروزمرعشی،مهردادنجبا،امیدسیفی،"میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن"،تهران،پیکنور، (1385).
۳ - B. Bhushan, O. Marti, "Scanning Probe Microscopy – Principle of Operation, Instrumentation,Probes" , NanotribologyNanomechanics, Springer, (2011).
۴ - . E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
۵ - G. Binnig, H. Rohrer, C. Gerber, E. Weibel, Surface studies by scanning tunneling microscopy, Phys. Rev. Lett. 49, 57–61 (1982).
۶ - J. Foster, J. mer, Imaging of liquid crystal using a tunneling microscope, Nature 333, 542–547 (1988).
۷ - G. Binnig, C.F. Quate, C. Gerber, Atomic force microscope, Phys. Rev. Lett. 56, 930–933(1986).
۸ - G. Binnig, C. Gerber, E. Stoll, T.R. Albrecht, C.F. Quate, Atomic resolution with atomic force microscope, Europhys. Lett. 3, 1281–1286 (1987).
۹ - K. Yamanaka, H. Ogisco, O. Kolosov, Ultrasonic force microscopy for nanometer resolution subsurface imaging, Appl. Phys. Lett. 64, 178–180 (1994).
۱۰ - P.K. Hansma, J. Tersoff, Scanning tunneling microscopy, J. Appl. Phys. 61, R1–R23 (1987).
۱۱ - D. Sarid, V. Elings, Review of scanning forcemicroscopy, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 431–437 (1991).
۱۲ - U. Durig, O. Zuger, A. Stalder, Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methodsapplications, J. Appl. Phys. 72, 1778–1797 (1992).
۱۳ - J. mer, Scanning tunneling microscopyatomic force microscopy in organic chemistry, Angew. Chem. Int. Ed. 31, 1298–1328 (1992).
۱۴ - H.J. Guntherodt, R. Wiesendanger (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy I: General PrinciplesApplications to CleanAdsorbate-Covered Surfaces (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۱۵ - R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy II: Further ApplicationsRelated Scanning Techniques (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۱۶ - D.A. Bonnell (Ed.), Scanning Tunneling Microscopyand Spectroscopy – Theory, Techniques,Applications (VCH, New York 1993).
۱۷ - O. Marti, M. Amrein (Eds.), STMSFM in Biology (Academic, San Diego 1993).
۱۸ - J.A. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy (Academic, Boston 1993) 102. H.J. Guntherodt, D. Anselmetti, E. Meyer (Eds.), Forces in Scanning Probe Methods (Kluwer, Dordrecht 1995).
۱۹ - Y. Martin, C.C. Williams, H.K. Wickramasinghe, Atomic force microscope-force mappingprofiling on a sub 100A ˚ scale, J. Appl. Phys. 61 4723–4729 (1987).
۲۰ - F.J. Giessibl, C. Gerber, G. Binnig, A low-temperature atomic force/scanning tunneling microscope for ultrahigh vacuum, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 984–988 (1991).
۲۱ - V.N. Koinkar, B. Bhushan, Microtribological studies of unlubricatedlubricated surfaces using atomic force/friction force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. A 14, 2378–2391 (1996).
۲۲ - H.J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikor, H.J. Guntherodt, Low temperature magnetic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920–2925 (1993).
۲۳ - C. Basire, D.A. Ivanov, Evolution of the lamellar structure during crystallization of a semicrystalline-amorphous polymer blend: Time-resolved hot-stage SPM study, Phys. Rev. Lett. 85, 5587–5590 (2000).
۲۴ - H. Liu, B. Bhushan, Investigation of nanotribological properties of self-assembled monolayers with alkylbiphenyl spacer chains, Ultramicroscopy 91, 185–202 (2002).
۲۵ - D. Smith, H. Horber, C. Gerber, G. Binnig, Smectic liquid crystal monolayers on graphite observed by scanning tunneling microscopy, Science 245, 43–45 (1989).
۲۶ - . D. Smith, J. Horber, G. Binnig, H. Nejoh, Structure, registryimaging mechanism of alkylcyanobiphenyl molecules by tunnelling microscopy, Nature 344, 641–644 (1990).
۲۷ - Y. Andoh, S. Oguchi, R. Kaneko, T. Miyamoto, Evaluation of very thin lubricant films, J. Phys. D 25, A71–A75 (1992).
۲۸ - Paolo Samori, "Scanning Probe Microscopies Beyond Imaging", WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, (2006).
۲۹ - http://www.nobelprize.org/educational.
۳۰ - E. Delawski, B.A. Parkinson, "Layer-by-layer etching of two-dimensional metal chalcogenides with the atomic force microscope", J. Am. Chem. Soc. 114, 1661–1667 (1992).
۳۱ - B. Drake, C.B. Prater, A.L. Weisenhorn, S.A.C. Gould, T.R. Albrecht, C.F. Quate, D.S. Cannell, H.G. Hansma, P.K. Hansma, Imaging crystals, polymersprocesses in water with the atomic force microscope, Science 243, 1586–1589 (1989).
۳۲ - B. Bhushan, G.S. Blackman, Atomic force microscopy of magnetic rigid disksslidersits applications to tribology, ASME J. Tribol. 113, 452–458 (1991).
۳۳ - O. Marti, B. Drake, P.K. Hansma, Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: atomic resolution images, Appl. Phys. Lett. 51, 484–486 (1987).
۳۴ - K.S. Birdi, "Scanningprobe microscopes : applications in sciencetechnology",USA, (2003).
۳۵ - J. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.),"Scanning Tunneling Microscopy", Academic Press, (1993).
۳۶ - G. Binnig, H. Rohrer, Scanning tunnelling microscopy, Surf. Sci. 126, 236–244 (1983).
۳۷ - A. V.Clemente, K. Gloystein, N. Frangis, "Principles of Atomic Force Microscopy(AFM)", Physics of Advanced Materials Winter School, (2008).
۳۸ - http://www.sho.espci.fr.
۳۹ - R.L. Nicolaides, W.E. Yong, W.F. Packard, H.A. Zhou, Scanning tunneling microscope tip structures, J. Vac. Sci. Technol. A 6, 445–447 (1988).
۴۰ - J.P. Ibe, P.P. Bey, S.L. Brandon, R.A. Brizzolara, N.A. Burnham, D.P. DiLella, K.P. Lee, C.R.K. Marrian, R.J. Colton, On the electrochemical etching of tips for scanning tunneling microscopy, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 3570–3575 (1990).
جمالی
۱۴۰۱/۰۵/۰۹مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۵/۱۰فتحی
۱۴۰۰/۱۱/۲۱سلام تو مقاله آشنایی با میکروسکوپ تونلی روبشی گفته شده اعمال ولتاژ 5 تا 5- ولت ولی تو این مقاله ولتاژ 10 میلی ولت مورد تاکید واقع شده اگه میشه راهنمایی کنید؟
مدیر سیستم
۱۴۰۰/۱۲/۱۱با توجه به جنس سوزن و نمونه مورد بررسی این ولتاز میتواند متغییر باشد.