میکروسکوپ نوری روبشی میدان نزدیک 1
در این مقاله به معرفی یکی دیگر از میکروسکوپهای پروبی روبشی، به نام میکروسکوپ نوری روبشی میدان نزدیک، پرداخته خواهد شد. اصول حاکم بر این میکروسکوپ مبنای اپتیکی داشته و لزوم آشنایی با مفاهیمی چون میدان نزدیک و میدان دور و نحوه عملکرد دستگاه در هر دو حالت را میطلبد. از اینرو در کنار معرفی این مفاهیم، نحوه عملکرد دستگاه تبیین شده و حالات کاری مهم در آن به طور خلاصه ذکر میشود.
این مقاله شامل سرفصهای زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- اصول عملکرد اپتیکی
1-3- میدان دور و میدان نزدیک
2-3- اساس عملکرد اپتیکی میکروسکوپ نوری روبشی میدان نزدیک
4- اجزای دستگاه
1-4- چشمه نور
2-4- پروب دستگاه SNOM
5- سازوکار بازخورد
1-5- سازوکار بازخورد نوع اول
2-5- سازوکار بازخورد نوع دوم
6- حالت «نیروی برشی» در رصد فاصله سوزن- سطح در SNOM
7- رزولوشن در سیستم دستگاهی میکروسکوپ نوری روبشی میدان نزدیک
1-7- تئوری مطرح
2-7- راهکارهای بهبود رزولوشن
8- حالات کاری دستگاه SNOM
نتیجهگیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - علی شکوه فر،کسری مؤمنی، "مقدمه ای بر نانوتکنولوژی"، نشرگستر، چاپ اول، 1384.
۲ - . V. L. Mironov ,"Fundamentals of scanning probe microscopy", (2004(
۳ - صدیقه صادق حسنی، مریم حاتمی مصلح آبادی، مجتبی نسب، "روش میکروسکوپی نوری روبشی میدان نزدیک در مطالعه نانومواد"، ماهنامه فناوری نانو، شماره 10، دی 89.
۴ - علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن"، تهران، پیک نور، (1385).
۵ - E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
۶ - M.A. Herman, Scanning near field optical microscopy,Opto-Electr.Rev,5,no. 4,1997
۷ - recording with resolution D.W.Pohl, W.Denk, M.Lanz – "Optical spectroscopy: image λ/20", Appl. Phys. Lett., vol. 44, p. 651 – 653 (1984).
۸ - U.Durig, D.W.Pohl, F.Rohrer, "Near-field optical-scanning microscopy", J.Appl. Phys. vol. 59, 10, 3318-3327, 1986.
۹ - Introduction to NSOM. The Optics Laboratory, North Carolina State University. 12 Oct 2007.
۱۰ - http://physics.nist.gov.
۱۱ - G. KauppAtomic, "Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical MicroscopyNano scratching: Application to RoughNatural Surfaces". Heidelberg: Springer. ISBN 3540284052, (2006).
۱۲ - http://www.olympusmicro.com/primer/techniques/nearfield/nearfieldintro.html
۱۳ - Robert C. Dunn, Chem. Rev, "Near-Field Scanning Optical Microscopy", 1999, 99, 2891-2927.
۱۴ - P.K.Wei, W.S.Fann, "The probe dynamics under shear force in near-field scanning optical microscopy". // J. Appl. Phys., vol. 83, 7, p. 3461 – 3468 (1998).
۱۵ - D.G.Volgunov, A.V.Buryukov, S.V.Gaponov, V.L.Mironov, "Probe - surface interaction in the piezo-resonator "shear force" microscope".Physics of Low – Dimensional, Structures, 3/4, p. 17-23 (2001).
۱۶ - J. A. DeAro, Kenneth D. WestonSteven K. Buratto, Near-Field Scanning Optical Microscopy of Nanostructures, Department of Chemistry, University of California, Santa Barbara, CA 93106-9510 .
ملایی
۱۴۰۴/۰۵/۱۱مدیر سیستم
۱۴۰۴/۰۷/۱۴بله
چون اساس کار میکروسکوپ SNOM همین موضوع هستش
«در روشهای قدیمی، اطلاعات مربوط به پرتوی با بسامد فضایی بالا از موج پراش یافته در محدوده میدان دور، از دست میروند و بنابراین آن دسته از مشخصههای نمونه که مربوط به فواصل زیر حد طول موج میشود، بازیابی نمیشوند. اما در میکروسکوپی میدان نزدیک، این موانع برطرف شده و روشهای مختلفی برای ایجاد تصویر استفاده میشود. این روشها اجازه غلبه بر محدودیت پراش و دستیابی به رزولوشن فضایی تا مرتبه 10 نانومتر را ایجاد کرده است»