معرفی آشکارساز پراش الکترون‌های برگشتی در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی
معرفی آشکارساز پراش الکترون‌های برگشتی در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی
آشکارساز پراش الکترون‌های برگشتی یکی از آشکارسازهای قابل نصب روی میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی یا میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی گسیل میدانی است، تا در این میکروسکوپ‌ها علاوه بر داشتن تصاویری از مورفولوژی سطح با دقت و وضوح بالا، امکان بررسی کمی و کیفی ریز ساختارها فراهم شود.
با استفاده از این آشکارساز می‌توان اطلاعات دقیقی از ریز ساختارها به‌صورت آشکارسازی دانه‌ها، مرز دانه‌ها، زاویه‌ی آن‌ها، میزان بلورشدگی و جهات بلورینگی، بررسی عیوب شبکه بلوری، تعیین مرزهای مقاوم در برابر ترک و خوردگی، بررسی بافت منطقه‌ای نمونه را بدست آورد. با استفاده از روش فوق می‌توان انواع فلزات، آلیاژها، سرامیک‌ها، کانی‌ها، پودرها، برخی از پلیمرها و غیره را مورد بررسی قرار داد، لذا در بسیاری از علوم و صنایع نظیر بلورشناسی، تجهیزات پزشکی، منابع انرژی، علم مواد، زمین‌شناسی و غیره می‌تواند به‌عنوان ابزاری بسیار قدرتمند مورد استفاده قرار گیرد.
این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
مقدمه
1- معرفی آشکارساز پراش الکترون‌های برگشتی
2- آماده‌سازی نمونه
3- بررسی برخی از قابلیت‌های پراش الکترون برگشتی
6- تعیین سه بعدی ریز ساختارها
7- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
نتیجه گیری
با استفاده از این آشکارساز می‌توان اطلاعات دقیقی از ریز ساختارها به‌صورت آشکارسازی دانه‌ها، مرز دانه‌ها، زاویه‌ی آن‌ها، میزان بلورشدگی و جهات بلورینگی، بررسی عیوب شبکه بلوری، تعیین مرزهای مقاوم در برابر ترک و خوردگی، بررسی بافت منطقه‌ای نمونه را بدست آورد. با استفاده از روش فوق می‌توان انواع فلزات، آلیاژها، سرامیک‌ها، کانی‌ها، پودرها، برخی از پلیمرها و غیره را مورد بررسی قرار داد، لذا در بسیاری از علوم و صنایع نظیر بلورشناسی، تجهیزات پزشکی، منابع انرژی، علم مواد، زمین‌شناسی و غیره می‌تواند به‌عنوان ابزاری بسیار قدرتمند مورد استفاده قرار گیرد.
این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
مقدمه
1- معرفی آشکارساز پراش الکترون‌های برگشتی
2- آماده‌سازی نمونه
3- بررسی برخی از قابلیت‌های پراش الکترون برگشتی
4- بررسی بافت ریز ساختارها
5- ترکیب پراش الکترون برگشتی با آنالیزور طیف‌سنجی پراکندگی انرژی6- تعیین سه بعدی ریز ساختارها
7- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - ScatteringDiffraction of http://www.springer.com/978-0-387-76500-6
۲ - Book: Electron BackScatter Diffraction, submitted to Dr salamat ali, riphan international university
۳ - Electron Backscatter Diffraction Characterization of Microstructure Evolution of Electroplated Copper Film Su-Hyeon Kim, Joo-Hee KangSeung Zeon Han
۴ - http://www.eden-instruments.com/en/edax-analytical-equipments/hikari-ebsd-camera-series/
۵ - Electron imaging with an EBSD detector StuartI .Wright a,n, MatthewM.Nowell a, RenédeKloe b, Patrick Camus c, TravisRampton
۶ - Microscopy study of advanced engineering materials de Jeer, Leonardus Theodorus Henry
۷ - https://www.tescan.com/en-us/technology/detectors/electron-backscatter-diffraction
۸ - Properties of Electrons, their Interactions with MatterApplications in Electron MicroscopyBy Frank Krumeich Laboratory of Inorganic Chemistry, ETH Zurich, Vladimir-Prelog-Weg 1, 8093 Zurich,Switzerland
۹ - Electron Backscatter Diffraction Characterization of Microstructure Evolution of Electroplated Copper FilmSu-Hyeon Kim, Joo-Hee KangSeung Zeon Han
۱۰ - EBSD investigation on the evolution of microstructuregrain boundaries in coarse-grained Nie48Al upon large deformation at elevated temperature Hou-run Xie a, Dong-liang Lin b, Ya-ting Chai c, Jing Hu a
۱۱ - 3D Orientation Microscopy Electron Backscatter Diffraction in a Combined FIB/SEM G.I.T. Imaging & Microscopy 04/2007, pp 40-41, GIT VERLAG GmbH & Co. KG, Darmstadt, German
۱۲ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2018 و شماره 21
