معرفی طیف نگار الکترونی افت انرژی EELS
معرفی طیف نگار الکترونی افت انرژی EELS
طیفنگاری الکترونی افت انرژی (Electron energy loss spectroscopy) به عنوان تکنیکی با کیفیت بالا محسوب می‌شود که برای آنالیز نمونههای نازک مورد استفاده قرار میگیرد. اساس این روش بر مبنای برخوردهای غیرالاستیکی است که در طی برخورد الکترونها به نمونه ایجاد می‌شود. بعضی از الکترونهایی که متحمل پراکنش غیرالاستیک میشوند، بدون اینکه در مسیر حرکت آنها تغییر قابل توجهی به وجود آید، مقداری از انرژی خود را از دست میدهند. بنابراین آنها در باریکه الکترونی عبوری به همراه الکترونهای پراکنش نیافته حضور خواهند داشت. مقدار افت انرژی که الکترونها در طی پراکنش غیرالاستیک دارند، تابعی از عمل پراکنش تحمیلی است. این الکترونها اصطلاحاً الکترونهای افت انرژی EELS نامیده شده و جهت تصویر یا میکروآنالیز شیمیایی میتوانند مورد استفاده قرار گیرند. بنابراین الکترونهای ورودی که مقداری از انرژی خود را در طی این فرایند از دست میدهند، منبع اطلاعات EELS هستند. برای هر نوع اتمی که برهمکنش میدهد، مقدار مشخصی انرژی از دست می‌رود. با اندازه‌گیری انرژی الکترون پراکنش یافته و کسر آن از انرژی الکترون ورودی، مقدار انرژی از دست رفته قابل محاسبه است. این افت انرژی مشخصکننده این است که چه نوع اتمی با الکترون ورودی برهمکنش داده، که در نهایت امکان شناسایی نمونه فراهم می‌شود [1].
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- پراکندگی غیرالاستیک
1-1- پراکندگی فونون
2-1- پراکندگی پلاسمون
3-1- برانگیختگی تک الکترون ظرفیت
4-1- برانگیختگی مدار داخلی
2- طیف‌نگار
3- طیف آنالیز کمی
4- اطلاعات مورد استفاده از روش EELS
5- معایب روش EELS
نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- پراکندگی غیرالاستیک
1-1- پراکندگی فونون
2-1- پراکندگی پلاسمون
3-1- برانگیختگی تک الکترون ظرفیت
4-1- برانگیختگی مدار داخلی
2- طیف‌نگار
3- طیف آنالیز کمی
4- اطلاعات مورد استفاده از روش EELS
5- معایب روش EELS
نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - پیروز مرعشی، سعید کاویانی، حسین سرپولکی و علیرضا ذوالفقاری، اصول و کاربرد میکروسکوپ¬های الکترونی و روش¬های نوین آنالیز ابزار شناسایی دنیای نانو، چاپ اول، دانشگاه علم و صنعت ایران، 1383.
۲ - مرتضی رزم آرا، مبانی و کاربرد میکروسکوپهای الکترونی و رو‌ش‌های آنالیز پیشرفته، مشهد، ارسلان، 1384.
۳ - R. F. Egerton, “Electron Loss Energy Spectroscopy in Electron Microscope”, 2nd Edition, plenum press, (1996).
