معرفی میکروسکوپ ‌های پروبی روبشی 1

معرفی میکروسکوپ ‌های پروبی روبشی 1
سطح مقاله

پیشرفته 1
کلمات کلیدی

میکروسکپ پروبی روبشی SPM
امتیاز کاربران

۴ امتیاز از ۵ (۵ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۳۳,۶۵۸
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۵۲۵
  • تعداد افراد شرکت کننده ۷۵
 
 

معرفی میکروسکوپ ‌های پروبی روبشی 1

میکروسکوپ‌های پروبی روبشی (SPM) به مجموعه گسترده‌ای از تکنیک‌ها گفته می‌شود که روبش سطح توسط یک پروب با قدرت تفکیک نانویی و حتی آنگسترومی انجام شده و تصاویر توپوگرافی یا نقشه‌هایی از یک خاصیت ویژه از سطح مواد ارائه می‌شود. اختراع میکروسکوپ پروبی روبشی، باعث تأثیر شگرفی بر توسعه فناوری نانو شده و امکانات جدیدی جهت طراحی سیستم‌های نانویی ایجاد کرده است. در مجموعه مقالات میکروسکوپ‌های پروبی روبشی ضمن معرفی هر دستگاه، تاریخچه، نحوه عملکرد، کاربردها، معایب و مزایای هر روش مورد بررسی قرار می‌گیرد.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- انواع میکروسکوپ‌های پروبی روبشی
4- مقایسه میکروسکوپ‌های پروبی روبشی با میکروسکوپ‌های مرسوم
نتیجه‌گیری


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
 

منابـــع و مراجــــع
۱ - V. L. Mironov ,"Fundamentals of scanning probe microscopy", (2004).
۲ - E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
۳ - Bharat Bhushan, "Springer Handbook of Nanotechnology", USA, Springer, (2004).
۴ - http://edu.nano.ir/index.php/articles/show/81.
۵ - A. Burnham, D.D. Domiguez, R.L. Mowery, R.J. Colton, Probing the surface forces of monolayer films with an atomic force microscope, Phys. Rev. Lett. 64, 1931–1934 (1990).
۶ - O. Marti, B. Drake, P.K. Hansma, Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: atomic resolution images, Appl. Phys. Lett. 51, 484–486 (1987(-
۷ - B. Drake, C.B. Prater, A.L. Weisenhorn, S.A.C. Gould, T.R. Albrecht, C.F. Quate, D.S. Cannell, H.G. Hansma, P.K. Hansma, Imaging crystals, polymersprocesses in water with the atomic force microscope, Science 243, 1586–1589 (1989).
۸ - M. Binggeli, R. Christoph, H.E. Hintermann, J. Colchero, O. Marti, Friction force measurements on potential controlled graphite in an electrolytic environment, Nanotechnology 4, 59–63 (1993).
۹ - G.Meyer, N.M. Amer, Novel optical approach to atomic force microscopy, Appl. Phys. Lett. 53, 1045–1047 (1988).
۱۰ - J.H. Coombs, J.B. Pethica, Properties of vacuum tunneling currents: Anomalous barrier heights, IBM J. Res. Dev. 30, 455–459 (1986).
۱۱ - M.D. Kirk, T. Albrecht, C.F. Quate, Low-temperature atomic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 59, 833–835 (1988).
۱۲ - F.J. Giessibl, C. Gerber, G. Binnig, A low-temperature atomic force/scanning tunnelingmicroscope for ultrahigh vacuum, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 984–988 (1991).
۱۳ - T.R. Albrecht, P. Grutter, D. Rugar, D.P.E. Smith, Low temperature force microscope with all-fiber interferometer, Ultramicroscopy 42–44, 1638–1646 (1992).
۱۴ - H.J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikor, H.J. Guntherodt, Low temperature magnetic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920–2925 (1993).
۱۵ - C. Basire, D.A. Ivanov, Evolution of the lamellar structure during crystallization of a semicrystalline-amorphous polymer blend: Time-resolved hot-stage SPM study, Phys. Rev. Lett. 85, 5587–5590 (2000).
۱۶ - H. Liu, B. Bhushan, Investigation of nanotribological properties of self-assembled monolayers with alkylbiphenyl spacer chains, Ultramicroscopy 91, 185–202 (2002).
۱۷ - J. Foster, J. mer, Imaging of liquid crystal using a tunneling microscope, Nature 333, 542–547 (1988).
۱۸ - D. Smith, J. Horber, G. Binnig, H. Nejoh, Structure, registryimaging mechanism of alkylcyanobiphenyl molecules by tunnelling microscopy, Nature 344, 641–644 (1990).
۱۹ - Y. Andoh, S. Oguchi, R. Kaneko, T. Miyamoto, Evaluation of very thin lubricant films, J. Phys. D 25, A71–A75 (1992).
۲۰ - D.W. Abraham, H.J. Mamin, E. Ganz, J. Clark, Surface modification with the scanning tunneling microscope, IBM J. Res. Dev. 30, 492–499 (1986).
۲۱ - R.M. Silver, E.E. Ehrichs, A.L. de Lozanne, Direct writing of submicron metallic features with a scanning tunnelling microscope, Appl. Phys. Lett. 51, 247–249 (1987).
۲۲ - A. Kobayashi, F. Grey, R.S. Williams, M. Ano, Formation of nanometer-scale grooves in silicon with a scanning tunneling microscope, Science 259, 1724–1726 (1993).
۲۳ - B. Parkinson, Layer-by-layer nanometer scale etching of two-dimensional substrates using the scanning tunneling microscopy, J. Am. Chem. Soc. 112, 7498–7502 (1990).
۲۴ - J.M.R. Weaver, D.W. Abraham, High resolution atomic force microscopy potentiometry, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1559–1561 (1991).
۲۵ - J. Bardeen: 'Tunneling a many-body point of view', Phys. Rev. Lett. 6, 57(1960).
۲۶ - I. Giaever, Energy gap in superconductors measured by electron tunneling, Phys. Rev. Lett. 5, 147–148 (1960).
۲۷ - P.K. Hansma, J. Tersoff, Scanning tunneling microscopy, J. Appl. Phys. 61, R1–R23 (1987).
۲۸ - D. Sarid, V. Elings, Review of scanning force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 431–437 (1991).
۲۹ - U. Durig, O. Zuger, A. Stalder, Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methodsapplications, J. Appl. Phys. 72, 1778–1797 (1992).
۳۰ - J. mer, Scanning tunneling microscopyatomic force microscopy in organic chemistry, Angew. Chem. Int. Ed. 31, 1298–1328 (1992).
۳۱ - H.J. Guntherodt, R. Wiesendanger (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy I: General PrinciplesApplications to CleanAdsorbate-Covered Surfaces (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۳۲ - R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy II: Further ApplicationsRelated Scanning Techniques (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۳۳ - D.A. Bonnell (Ed.), Scanning Tunneling MicroscopySpectroscopy – Theory, Techniques,Applications (VCH, New York 1993).
۳۴ - O. Marti, M. Amrein (Eds.), STMSFM in Biology (Academic, San Diego 1993).
۳۵ - B. Bhushan, G.S. Blackman, Atomic force microscopy of magnetic rigid disksslidersits applications to tribology, ASME J. Tribol. 113, 452–458 (1991).
۳۶ - J. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.),"Scanning Tunneling Microscopy", Academic Press, (1993).
۳۷ - علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن" ،تهران، پیک نور، (1385).
۳۸ - http://www.natsyco.com/.
ارسال نظر