معرفی میکروسکوپ‌های پروبی روبشی (1)
معرفی میکروسکوپ‌های پروبی روبشی (1)
میکروسکوپ‌های پروبی روبشی (SPM) به مجموعه گسترده‌ای از تکنیک‌ها گفته می‌شود که روبش سطح توسط یک پروب با قدرت تفکیک نانویی و حتی آنگسترومی انجام شده و تصاویر توپوگرافی یا نقشه‌هایی از یک خاصیت ویژه از سطح مواد ارائه می‌شود. اختراع میکروسکوپ پروبی روبشی، باعث تأثیر شگرفی بر توسعه فناوری نانو شده و امکانات جدیدی جهت طراحی سیستم‌های نانویی ایجاد کرده است. در مجموعه مقالات میکروسکوپ‌های پروبی روبشی ضمن معرفی هر دستگاه، تاریخچه، نحوه عملکرد، کاربردها، معایب و مزایای هر روش مورد بررسی قرار می‌گیرد.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- انواع میکروسکوپ‌های پروبی روبشی
4- مقایسه میکروسکوپ‌های پروبی روبشی با میکروسکوپ‌های مرسوم
نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- انواع میکروسکوپ‌های پروبی روبشی
4- مقایسه میکروسکوپ‌های پروبی روبشی با میکروسکوپ‌های مرسوم
نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - V. L. Mironov ,"Fundamentals of scanning probe microscopy", (2004).
۲ - E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
۳ - Bharat Bhushan, "Springer Handbook of Nanotechnology", USA, Springer, (2004).
۴ - http://edu.nano.ir/index.php/articles/show/81.
۵ - A. Burnham, D.D. Domiguez, R.L. Mowery, R.J. Colton, Probing the surface forces of monolayer films with an atomic force microscope, Phys. Rev. Lett. 64, 1931–1934 (1990).
۶ - O. Marti, B. Drake, P.K. Hansma, Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: atomic resolution images, Appl. Phys. Lett. 51, 484–486 (1987(-
۷ - B. Drake, C.B. Prater, A.L. Weisenhorn, S.A.C. Gould, T.R. Albrecht, C.F. Quate, D.S. Cannell, H.G. Hansma, P.K. Hansma, Imaging crystals, polymersprocesses in water with the atomic force microscope, Science 243, 1586–1589 (1989).
۸ - M. Binggeli, R. Christoph, H.E. Hintermann, J. Colchero, O. Marti, Friction force measurements on potential controlled graphite in an electrolytic environment, Nanotechnology 4, 59–63 (1993).
۹ - G.Meyer, N.M. Amer, Novel optical approach to atomic force microscopy, Appl. Phys. Lett. 53, 1045–1047 (1988).
۱۰ - J.H. Coombs, J.B. Pethica, Properties of vacuum tunneling currents: Anomalous barrier heights, IBM J. Res. Dev. 30, 455–459 (1986).
۱۱ - M.D. Kirk, T. Albrecht, C.F. Quate, Low-temperature atomic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 59, 833–835 (1988).
۱۲ - F.J. Giessibl, C. Gerber, G. Binnig, A low-temperature atomic force/scanning tunnelingmicroscope for ultrahigh vacuum, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 984–988 (1991).
۱۳ - T.R. Albrecht, P. Grutter, D. Rugar, D.P.E. Smith, Low temperature force microscope with all-fiber interferometer, Ultramicroscopy 42–44, 1638–1646 (1992).
۱۴ - H.J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikor, H.J. Guntherodt, Low temperature magnetic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920–2925 (1993).
۱۵ - C. Basire, D.A. Ivanov, Evolution of the lamellar structure during crystallization of a semicrystalline-amorphous polymer blend: Time-resolved hot-stage SPM study, Phys. Rev. Lett. 85, 5587–5590 (2000).
۱۶ - H. Liu, B. Bhushan, Investigation of nanotribological properties of self-assembled monolayers with alkylbiphenyl spacer chains, Ultramicroscopy 91, 185–202 (2002).
۱۷ - J. Foster, J. mer, Imaging of liquid crystal using a tunneling microscope, Nature 333, 542–547 (1988).
۱۸ - D. Smith, J. Horber, G. Binnig, H. Nejoh, Structure, registryimaging mechanism of alkylcyanobiphenyl molecules by tunnelling microscopy, Nature 344, 641–644 (1990).
۱۹ - Y. Andoh, S. Oguchi, R. Kaneko, T. Miyamoto, Evaluation of very thin lubricant films, J. Phys. D 25, A71–A75 (1992).
۲۰ - D.W. Abraham, H.J. Mamin, E. Ganz, J. Clark, Surface modification with the scanning tunneling microscope, IBM J. Res. Dev. 30, 492–499 (1986).
۲۱ - R.M. Silver, E.E. Ehrichs, A.L. de Lozanne, Direct writing of submicron metallic features with a scanning tunnelling microscope, Appl. Phys. Lett. 51, 247–249 (1987).
۲۲ - A. Kobayashi, F. Grey, R.S. Williams, M. Ano, Formation of nanometer-scale grooves in silicon with a scanning tunneling microscope, Science 259, 1724–1726 (1993).
۲۳ - B. Parkinson, Layer-by-layer nanometer scale etching of two-dimensional substrates using the scanning tunneling microscopy, J. Am. Chem. Soc. 112, 7498–7502 (1990).
۲۴ - J.M.R. Weaver, D.W. Abraham, High resolution atomic force microscopy potentiometry, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1559–1561 (1991).
۲۵ - J. Bardeen: 'Tunneling a many-body point of view', Phys. Rev. Lett. 6, 57(1960).
۲۶ - I. Giaever, Energy gap in superconductors measured by electron tunneling, Phys. Rev. Lett. 5, 147–148 (1960).
۲۷ - P.K. Hansma, J. Tersoff, Scanning tunneling microscopy, J. Appl. Phys. 61, R1–R23 (1987).
۲۸ - D. Sarid, V. Elings, Review of scanning force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 431–437 (1991).
۲۹ - U. Durig, O. Zuger, A. Stalder, Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methodsapplications, J. Appl. Phys. 72, 1778–1797 (1992).
۳۰ - J. mer, Scanning tunneling microscopyatomic force microscopy in organic chemistry, Angew. Chem. Int. Ed. 31, 1298–1328 (1992).
۳۱ - H.J. Guntherodt, R. Wiesendanger (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy I: General PrinciplesApplications to CleanAdsorbate-Covered Surfaces (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۳۲ - R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy II: Further ApplicationsRelated Scanning Techniques (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۳۳ - D.A. Bonnell (Ed.), Scanning Tunneling MicroscopySpectroscopy – Theory, Techniques,Applications (VCH, New York 1993).
۳۴ - O. Marti, M. Amrein (Eds.), STMSFM in Biology (Academic, San Diego 1993).
۳۵ - B. Bhushan, G.S. Blackman, Atomic force microscopy of magnetic rigid disksslidersits applications to tribology, ASME J. Tribol. 113, 452–458 (1991).
۳۶ - J. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.),"Scanning Tunneling Microscopy", Academic Press, (1993).
۳۷ - علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن" ،تهران، پیک نور، (1385).
۳۸ - http://www.natsyco.com/.
