مروری بر روش‌های آماده‌سازی نمونه‌های TEM - (بخش دوم)
مروری بر روش‌های آماده‌سازی نمونه‌های TEM - (بخش دوم)
در بخش اول این مقاله، (مروری بر روش‌های آماده‌سازی نمونه‌های TEM) روش‌های آماده‌سازی برای نمونه‌های فلزات و آلیاژها و همچنین پوشش‌های چندلایه‌ای به‌منظور تصویربرداری TEM ارائه شد. در بخش دوم این مقاله، به‌طور اجمالی روش‌های آماده‌سازی نمونه TEM سایت خاص با استفاده از فرز با پرتو یون متمرکز نیز ارائه می‌شود. آماده‌سازی نمونه شامل نازک‌کاری نمونه به ضخامت گذرا در برابر الکترون است که این کار موجب دیده شدن ساختارهای غیرواقعی یا آرتیفکت در نمونه می‌شود که به‌طور خلاصه مورد بحث قرار می‌گیرد.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- نانومواد
2-2- نانوذرات با خاصیت مغناطیسی
3-2- نوارها
3-کامپوزیت‌ها
4. مواد شکننده
5- نمونه‌های TEM سایت خاص با استفاده از فرزکاری با پرتو یون متمرکز (FIB)
6- نمونه‌های TEM و آرتیفکت‌ها
7- نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - http://www.imec.be/efug/EFUG10.html
۲ - Sun BB, Wang YB, Wen J, Hang H, Sui ML, Wang JQ,Ma E. a. Mat. 2005; 53(7): 805-809
۳ - Joachim Mayer, Lucille A. Giannuzzi, Takeo Kamino,Joseph Michael, MRS Bulletin, 2007; 32: 400-407
۴ - Dong-Su Ko, Young Min Park, Sung-Dae Kim,Young-Woon Kim, Ultramicroscopy, 2007; 107(4-5): 368-373
۵ - David Cooper, Robert Truche, Jean-Luc Rouviere, Ultramicroscopy, 2008(5); 108: 488-493
۶ - Jinschek JR, Radmilovic V, Kisielowski Ch, Microsc. Microanal. 10(Suppl.2), 2004; 1142-1143
