مبانی آماده‌سازی نمونه در دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) - بخش اول

مبانی آماده‌سازی نمونه در دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) - بخش اول
سطح مقاله

پیشرفته 1
کلمات کلیدی

میکروسکوپ الکترونی روبشی
توپوگرافی
بزرگنمایی
آماده‌سازی
امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)

مبانی آماده‌سازی نمونه در دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) - بخش اول

در علوم مهندسی، موضوع آنالیز و شناسایی مواد از اهمیت کلیدی برخوردار است. روش‌های آنالیز و شناسایی مواد از نظر تحقیق و توسعه و همچنین از نظر کنترل کیفیت، مورد توجه هستند. به‌منظور دستیابی به بهترین نتیجه در آنالیز و شناسایی مواد، به روش‌ها و دستگاه‌هایی نیاز است که یکی از مهمترین این تجهیزات میکروسکوپ الکترونی روبشی است. با توجه به کاربرد روزافزون و مقرون به صرفه بودن میکروسکوپ الکترونی روبشی، باید اشاره کرد که دامنه بزرگنمایی این میکروسکوپ‌ها چیزی در حدود 5 تا 1000000 برابر امکان‌پذیر شده‌است.
استفاده صحیح از میکروسکوپ الکترونی روبشی و رسیدن به نتیجه مورد قبول نیازمند نمونه‌هایی با شرایط مناسب است، بنابراین نمونه قبل از بررسی توسط دستگاه فوق، نیاز به آماده‌سازی دارد که بسته به جنس، سختی، اندازه، کیفیت سطح و غیره، نحوه آماده‌سازی، متغیر خواهد بود. قبل از شروع به آماده‌سازی نمونه، باید مشخص کنیم که چه اطلاعاتی از نمونه را لازم داریم. به‌عنوان مثال، آماده‌سازی نمونه‌ای که تنها به اطلاعات توپوگرافی سطح آن نیاز داریم با نمونه‌ای که اطلاعات مربوط به ترکیب شیمیایی آن را می‌خواهیم ممکن است متفاوت و یا یکسان باشد. به‌منظور انتخاب بهترین روش آماده‌سازی نمونه، توجه به اندازه، حالت، مقدار و رسانایی نمونه بسیار حایز اهمیت است.
مقاله حاضر تلاشی است برای ضرورت آشنایی هر چه بیشتر با نحوه آماده‌سازی نمونه‌های مختلف مورد استفاده در دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی، به‌منظور رسیدن به نتیجه مطلوب، برای محققان، پژوهشگران و صنعتگران را نشان می‌دهد.

این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
1- مقدمه
2- لزوم آماده‌سازی نمونه (شرایط نمونه‌ها برای تصویربرداری در دستگاه SEM)
3- مراحل عمومی آماده‌سازی
4- تقسیم‌بندی مواد و روش‌های آماده‌سازی آن‌ها
5- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی


 


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید

منابـــع و مراجــــع
۱ - JosephI.Goldstein et.al,”Scanning Electron Microscopy & X-Ray Microanalysis” Third Edition, Kluwer academic/Plenum Publishers, NewYork Boston, Dordrecht, London, MoScow, 2003.
۲ - Patrick Echlin,”Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy & X-Ray Microanalysis” Cambridge Analytical Microscopy,UK, 2009.
۳ - Weilie Zhou”Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques & Applications” University of New Orleans,2006.
۴ - P. F. GanC.L. Ngui” Specimen Preparation Technique for Polymeric Materials” Malaysian Polymer Journal, Vol 4, No.1, p 1-6, 2009.
۵ - “Standard preparation of biological material for SEM analysis” Laboratory of Scanning Electron Microscopy,University of Silesia Faculty of BiologyEnvironmental Protection.
۶ - Michael Dunlap & Dr. J. E. Adaskaveg" Introduction to the Scanning Electron Microscope, Theory, Practice, & Procedures", FACILITY FOR ADVANCED INSTRUMENTATION, U. C. Davis, 1997.
۷ - "SEM Q&A" prepared by JEOL Ltd.
۸ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2014 و شماره 4
ارسال نظر