طیف‌نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)
طیف‌نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)
طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)، روش آنالیزی برای بررسی سطح مواد از نقطه نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ایکسِ تک انرژی بمباران میشود و فوتوالکترون‌های پرانرژی‌ترِ تولید شده، موفق به فرار از ماده میشوند. این فوتوالکترونها پس از ارسال به تحلیلگر انرژی و تعیین انرژی جنبشی آنها، به آشکارساز هدایت میشوند تا تعداد فوتوالکترون‌های تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند. در نهایت این اطلاعات به صورت تعداد فوتوالکترونها بر حسب انرژی پیوندی رسم میشوند. از آن جایی که انرژی فوتوالکترون‌های داخلی، مشخصه هر اتم است؛ تعیین عناصر موجود در نمونه، با اندازه‌گیری انرژیهای جنبشی فوتوالکترون‌های خارج شده از نمونه، امکانپذیر است. حالت شیمیایی عناصر موجود در نمونه، از انحرافات مختصر در انرژیهای جنبشی و غلظتهای نسبی آن عناصر با توجه به شدتهای فوتوالکترون‌های مربوط به هر عنصر قابل اندازه‌گیری است.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- اجزای تشکیلدهنده طیفنگار فوتوالکترونی اشعه ایکس
1-2- منابع اشعه ایکس
2-2- تحلیلگر انرژی
3-2- آشکارساز
3- آمادهسازی نمونه
4- طیف فوتوالکترون اشعه ایکس
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- اجزای تشکیلدهنده طیفنگار فوتوالکترونی اشعه ایکس
1-2- منابع اشعه ایکس
2-2- تحلیلگر انرژی
3-2- آشکارساز
3- آمادهسازی نمونه
4- طیف فوتوالکترون اشعه ایکس
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Watts, J. F., Wolstenholme, J. “An Introduction to Surface Analysis by XPSAES”, 2nd Edition, New York, Wiley (2003).
۲ - Crist, B.V. “Handbooks of Monochromatic XPS Spectra”, USA, published by XPS International LLC (2004) .
