سایت آموزش فناوری نانو

سطح مقاله

پیشرفته 1

نویسندگان

میثم میرزایی
( نویسنده )
فهیمه بهزادی
( نویسنده )

کلمات کلیدی

فوتوالکترون

امتیاز کاربران

۵ امتیاز از ۵ (۱ رای)

آزمون مقاله

لطفا ابتدا وارد سیستم شوید

مقالات مرتبط

آمار مقاله

بازدید کل ۴۳,۵۴۴

آمار آزمون مقاله

کل شرکت کنندگان ۵۸
تعداد افراد شرکت کننده ۹

طیف سنجی فوتوالکترونی ماوراءبنفش UPS

طیف‌سنجی فوتوالکترون ماوراءبنفش (UPS) یکی از روش‌های آنالیز سطح است. اصول عملکرد این روش کاملاً شبیه به روش طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتوایکس (XPS) است با این تفاوت که در این روش به جای استفاده از پرتو ایکس از پرتو ماوراءبنفش استفاده می‎شود. این روش نسبت به XPS بسیار حسا‌س‌تر است به طوری که وجود کمترین ناخالصی یا آلودگی بر روی سطح، طیف اتمی را تغییر می‌دهد. در UPS سطح ماده با استفاده از پرتو ماوراءبنفش بمباران می‌شود. از آن‌جایی که انرژی پرتوها در این حالت از XPS کمتر است، بنابراین فقط الکترون‎های لایه ظرفیت/رسانش، قابلیت فرار از ماده را پیدا می‌کنند. این فوتوالکترون‌ها با استفاده از یک طیف‌سنجی الکترونی مورد بررسی قرار می گیرند. از آنجایی که بیشتر خواص مواد با استفاده از چگالی این الکترون‌ها قابل توجیه است، بنابراین با استفاده از اطلاعات به‎دست آمده از این روش بسیاری از خواص مواد را می‌توان پیش‌بینی و توجیه کرد.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- عملکرد
4- روش
5- کاربردها

لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید

منابـــع و مراجــــع

۱ - عبدالرضاسیم‌چی،"آشنایی با نانوذرات (خواص، روش‌های تولید و کاربرد)." چاپ اول، تهران، موسسه انتشارات علمی دانشگاه صنعتی شریف، (1387).

۲ - Leonard J. Brillson., " SurfacesInterfaces of Electronic Materials" Germany, Wiley-Vch Verlag GmbH &Co, (2010).

۳ - DJ. O'Connor, B.A. Sexton, R.St.C. Smart., " Surface Analysis Methods in Materials Science",2nd Edition, Germany, Springer, (2003).

۴ - http://en.wikipedia.org/wiki/Ultraviolet_photoelectron_spectroscopy

۵ - John F. Watts, John Wolstenholme., "An Introduction to Surface Analysis by XPSAES" England, John Wiley & Sons Ltd, (2003).

۶ - . http://www.ounqpi.org/fellowship-win-funds-thin-film-research

۷ - فرهاد گلستانی فرد، محمد علی بهره ور، اسماعیل صلاحی، " روش‌های شناسایی و آنالیز مواد" چاپ چهارم، تهران، دانشگاه علم و صنعت ایران، (1389).

۸ - Charles P. Poole, Jr., Frank J. Owens., " Introduction to Nanotechnology" USA, John Wiley & Sons, (2003).

۹ - H. Peisert, M. Knupfer, T. Schwieger, J.M. Auerhammer, M.S. GoldenJ. Fink. "Full characterization of the interface between the organic semiconductor copper phthalocyaninegold.", Journal of Applied Physics, vol. 91, pp.4872-4878, (2002).