شاخص های کلیدی آماده‌سازی نمونه- مزایا و محدودیت ها و کاربردها در SEM
شاخص های کلیدی آماده‌سازی نمونه- مزایا و محدودیت ها و کاربردها در SEM
نمونه مورد مطالعه در SEM، مانند تمامی روش‌های میکروسکوپی دیگر باید ویژگی‌هایی داشته باشد که مهم‌ترین آن‌ها ابعاد محدود و صلب بودن نمونه است. برای بررسی نمونه‌ها با میکروسکوپ SEM باید آن‌ها را آماده‌سازی کرد. رسانا بودن سطح نمونه، شرط لازم نمونه است تا بتوان آن را مورد بررسی قرار داد. به همین جهت برای نمونه‌های نارسانا، از یک پوشش نازک رسانا بر روی نمونه استفاده می‌شود. انجام مطالعات میکروسکوپی با SEM مزایای بسیاری چون عمق میدان بالا، بزرگنمایی و حد تفکیک زیاد، متنوع بودن نتایج، دستیابی به تصاویر سه بعدی و ... را به همراه دارد که باعث شده کاربردهای گستردهای در علوم مختلف فیزیک، شیمی، زمین‌شناسی، کشاورزی، صنایع غذایی، پزشکی و مهندسی مواد، نساجی، عمران، مکانیک، بیوفناوری و نانوفناوری داشته باشد.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- شاخص‌های کلیدی در SEM
1-1- عمق میدان (Depth of Field)
2-1- قدرت تفکیک (Resolution)
3-1- بزرگنمایی (Magnification)
2- خصوصیات نمونه‌های SEM
3- آماده‌سازی نمونه‌های SEM
1-3- تمیزکردن
2-3- ثابت کردن نمونه
3-3- برقراری اتصال الکتریکی
4-3- اچ کردن
4- کاربردها
5- مزایا
6- محدودیت‌ها
7- بحث و نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- شاخص‌های کلیدی در SEM
1-1- عمق میدان (Depth of Field)
2-1- قدرت تفکیک (Resolution)
3-1- بزرگنمایی (Magnification)
2- خصوصیات نمونه‌های SEM
3- آماده‌سازی نمونه‌های SEM
1-3- تمیزکردن
2-3- ثابت کردن نمونه
3-3- برقراری اتصال الکتریکی
4-3- اچ کردن
4- کاربردها
5- مزایا
6- محدودیت‌ها
7- بحث و نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - م. کرباسی،"میکروسکوپ الکترونی روبشی و کاربردهای آن در علوم مختلف و فناوری نانو"،چاپ اول، اصفهان: جهاد دانشگاهی واحد صنعتی اصفهان،(1388).
۲ - Goodhew, P. J., Humphreys, J., Beanland, R., “Electron MicroscopyAnalysis”, 3rd Edition. London: Taylor & Francis, (2001).
۳ - Zhou, W., Wang, Z. L. (Editors), “Scanning Microscopy for Nanotechnology - TechniquesApplications”, New York: Springer, (2006).
۴ - ی. خرازی و ا. ش. غفور،"ابزار شناسایی ساختار مواد"،چاپ اول، تهران: دانشگاه علم و صنعت ایران،(1380).
۵ - http://en.wikipedia.org/wiki/Visible_spectrum.
۶ - Goldstein, J. I., Newbury, D., Joy, D. C., Lyman, C. E., Echlin, P., Lifshin, E., Sawyer, L., Michael, J. R., “Scanning Electron MicroscopyX-Ray Microanalysis”, 3rd Edition. New York: Kluwer Academic/Plenum, (2003).
۷ - http://en.wikipedia.org/wiki/Scanning_electron_microscope.
۸ - پ. مرعشی، س. کاویانی، ح. سرپولکی و ع. ذوالفقاری،"اصول و کاربرد میکروسکوپ¬های الکترونی و روش¬های نوین آنالیز - ابزار شناسایی دنیای نانو"،ویرایش دوم. چاپ دوم، تهران: دانشگاه علم و صنعت ایران،(1389).
۹ - Echlin, P., “Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron MicroscopyX-Ray Microanalysis”, New York: Springer, (2009).
۱۰ - http://www.theanchorsite.com/wp-content/uploads/2009/06/carbon_coating.jpg.
۱۱ - www.eng.utah.edu/~lzang.
۱۲ - http://www.microscopemaster.com/scanning-electron-microscope.html.
خلیفه
۱۴۰۲/۱۰/۱۸مدیر سیستم
۱۴۰۲/۱۰/۱۹سوسنی
۱۴۰۱/۰۴/۰۸مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۴/۰۹منظور از حد تفکیک زیاد (مقدار عددی حد تفکیک کمتر)است.