تصویربرداری طیف سنجی جرمی یون ثانویه- SIMS
تصویربرداری طیف سنجی جرمی یون ثانویه- SIMS
به منظور آنالیز شیمیایی سطح نانوذرات و جزئیات در مقیاس نانو، در مواد طبیعی و مصنوعی، از تکنیک‌های مختلفی استفاده می‌شود. تصویربرداری طیف‌سنجی جرمی یکی از تکنیک‌های آنالیز مولکول‌ها در سطح است. روشهای متفاوت از طیف‌سنجی جرمی، توانایی تصویربرداری شیمیایی را دارند ولی در این بین، طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه (SIMS) جزئیاتی در مقیاس نانو را فراهم می‌کند. طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه یکی از حساس‌ترین و دقیق‌ترین روشهای آنالیز مواد در مقیاس بسیار کوچک و در غلظت‌های بسیار کم است.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه SIMS
3- کاربرد تصویربرداری طیف‌سنجی جرمی در فناوری نانو
نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه SIMS
3- کاربرد تصویربرداری طیف‌سنجی جرمی در فناوری نانو
نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - .M. SenonerW. E. S. Unger, SIMS imaging of the nanoworld: applications in sciencetechnology, Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 27, 1050,(2012).
۲ - .J. Pól, M.Strohalm1, V.HavlíčekM.Volný, Molecular mass spectrometry imaging in biomedicallife science research, HistochemistryCell Biology, 134,423,(2010).
۳ - http://en.wikipedia.org/wiki/Focused_ion_beam
۴ - http://en.wikipedia.org/wiki/Liquid_metal_ion_source
۵ - M. Hamacher, K. Marcus,K. Stühler, A. van Hall, B. Warscheid, H. E. Meyer, “Proteomics in Drug Research” , Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA,(2006).c
۶ - عبدالرضا سیم چی،"آشنایی با نانو ذرات (خواص،روشهای تولید و کاربرد)" چاپ اول.،تهران: موسسه ی انتشارات علمی دانشگاه صنعتی شریف،59،(1387).
