تحلیل و کاربرد الگوهای پراش اشعه ایکس (XRD) - بخش اول
تحلیل و کاربرد الگوهای پراش اشعه ایکس (XRD) - بخش اول
پراش اشعه ایکس یک روش بسیار موثر و غیرمخرب برای مشخصهیابی مواد بلوری است. این روش اطلاعاتی را در مورد ساختار، فاز، جهتگیری بلوری (بافت) و سایر مولفههای ساختاری مانند اندازه دانه، اندازه بلورک، بلورینگی، کرنش و عیوب بلوری ارائه میدهد. بهطور کلی، الگوی پراش اشعه ایکس همانند اثر انگشت انسان، یک مشخصه از آرایش متناوب اتمی در ماده خاص است. در این مقاله، پراش اشعه ایکس به طور اجمالی معرفی میشود و سپس به طور مفصل به تحلیل الگوهای پراش اشعه ایکس مواد تکبلوری و چندبلوری، و اطلاعاتی که میتوان از هر الگو بهدست آورد، پرداخته میشود.
این مقاله شامل سرفصلهای زیر است:
1-مقدمه
2-انواع اطلاعات حاصل از الگوهای XRD
1-2- تکبلورها
1-1-2- جهتگیری تکبلورها
2-2- مواد چندبلوری
1-2-2- اندازه دانه
2-2-2- اندازه ذره (بلورک) و میکروکرنش
نتیجهگیری
این مقاله شامل سرفصلهای زیر است:
1-مقدمه
2-انواع اطلاعات حاصل از الگوهای XRD
1-2- تکبلورها
1-1-2- جهتگیری تکبلورها
2-2- مواد چندبلوری
1-2-2- اندازه دانه
2-2-2- اندازه ذره (بلورک) و میکروکرنش
نتیجهگیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Cullity, Bernard Dennis. Elements of X-ray Diffraction. Addison-Wesley Publishing, 1956.
۲ - Bunaciu, Andrei A., Elena Gabriela UdriŞTioiu,Hassan Y. Aboul-Enein. "X-ray diffraction: instrumentationapplications." Critical reviews in analytical chemistry 45, no. 4 (2015): 289-299.
۳ - Goeta, A. E.,J. A. K. Howard. "Low temperature single crystal X-ray diffraction: advantages, instrumentationapplications." Chemical Society Reviews 33, no. 8 (2004): 490-500.
۴ - Monaco, Hugo L., Gilberto Artioli, Davide Viterbo, Giovanni Ferraris,C. Giacovazzo. Fundamentals of crystallography. Edited by Carmelo Giacovazzo. Vol. 7. Oxford: Oxford University Press, 2002.
۵ - Suryanarayana, Challapalli,M. Grant Norton. X-ray diffraction: a practical approach. Springer Science & Business Media, 2013.
۶ - Scardi, Paolo, Matteo Leoni,Kenneth Roy Beyerlein. "On the modelling of the powder pattern a nanocrystalline material." Zeitschrift für Kristallographie Crystalline Materials 226, no. 12 (2011): 924-933.
۷ - Azároff, Leonid V., Roy Kaplow, N. Kato, Richard J. Weiss, A. J. C. Wilson,R. A. Young. X-ray Diffraction. Vol. 3, no. 1. New York: McGraw-Hill, 1974.
۸ - Aly, Kamal A., N. M. Khalil, Yousif Algamal,Qaid MA Saleem. "Estimation of lattice strain for zirconia nano-particles based on Williamson-Hall analysis." Materials ChemistryPhysics 193 (2017): 182-188.
پروین زاده
۱۴۰۲/۰۳/۰۸مدیر سیستم
۱۴۰۲/۰۳/۱۱ممنون از لطف شما