سایت آموزش فناوری نانو

آزمون مقاله

آمار مقاله

بازدید کل ۱۹,۱۹۴

آمار آزمون مقاله

کل شرکت کنندگان ۳۰۱
تعداد افراد شرکت کننده ۵۲

تحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES

در سال‌های گذشته، روش‌های نوین مشخصه‌یابی عنصری شامل روش طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) و روش طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES) به‌عنوان روش‌هایی پرکاربرد و قدرتمند بسیار مورد توجه قرار گرفته‌اند. در این مقاله به‌طور مفصل به تحلیل داده‌های کمی و کیفی این دو روش و پروفیل عمقی پرداخته شده، و هم‌چنین مزایا و محدودیت‌های آن‌ها مورد بحث و بررسی قرار خواهند گرفت.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2- طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس
1-2- آنالیز کیفی
2-2- آنالیز کمی
3-2- پروفیل عمقی
4-2- محدودیت‌ها
3- طیف‌سنجی الکترون اوژه
1-3- آنالیز کیفی
2-3- آنالیز کمی
3-3- اطلاعات شیمیایی
4-3- پروفیل عمقی
5-3- محدودیت‌ها
نتیجه گیری

لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید