تحلیل و کاربرد داده‌ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) - بخش دوم
تحلیل و کاربرد داده‌ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) - بخش دوم
میکروسکوپ الکترونی روبشی یک ابزار بسیار توانمند برای مشاهده پدیده‌های سطحی با استفاده از باریکه‌ای متمرکز از الکترون‌ها است. با استفاده از این نوع میکروسکوپ می‌توان علاوه بر مطالعه مورفولوژی سطح، ترکیب شیمیایی سطح، مکان دقیق هر کدام از عناصر و جهت‌گیری دانه‌ها را هم مورد بررسی قرار داد. در این مقاله، به طور مفصل به تحلیل تصاویر حاصل از میکروسکوپ الکترونی روبشی، و اطلاعاتی که می‌توان از هر تصویر به‌دست آورد، پرداخته می‌شود.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تعیین ترکیب شیمیایی سطح
1-2- نوع عناصر و مقدار آن‌ها
3- اطلاعات حاصل از پراش الکترون برگشتی (Electron backscatter diffraction; EBSD)
1-3- تعیین فاز، تحولات فازی و جهت‌گیری
2-3- محاسبه کرنش، چرخش بلوری و نابه‌جایی‌ها
نتیجه گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تعیین ترکیب شیمیایی سطح
1-2- نوع عناصر و مقدار آن‌ها
3- اطلاعات حاصل از پراش الکترون برگشتی (Electron backscatter diffraction; EBSD)
1-3- تعیین فاز، تحولات فازی و جهت‌گیری
2-3- محاسبه کرنش، چرخش بلوری و نابه‌جایی‌ها
نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - [1] Borrajo-Pelaez, Rafael,Peter Hedström. "Recent developments of crystallographic analysis methods in the scanning electron microscope for applications in metallurgy." Critical Reviews in Solid StateMaterials Sciences 43, no. 6 (2018): 455-474.
۲ - [2] Sneddon, Glenn C., Patrick W. Trimby,Julie M. Cairney. "Transmission Kikuchi diffraction in a scanning electron microscope: A review." Materials ScienceEngineering: R: Reports 110 (2016): 1-12.
۳ - [3] Smith, K. C. A.,C. W. Oatley. "The scanning electron microscopeits fields of application." British Journal of Applied Physics 6, no. 11 (1955): 391.
۴ - [4] Muscariello, Livio, Francesco Rosso, Gerardo Marino, Antonio Giordano, Manlio Barbarisi, Gennaro Cafiero,Alfonso Barbarisi. "A critical overview of ESEM applications in the biological field." Journal of cellular physiology 205, no. 3 (2005): 328-334.
۵ - [5] Baba-Kishi, K. Z. "Review Electron backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope for crystallographic analysis." Journal of materials science 37, no. 9 (2002): 1715-1746.
۶ - [6] Vida-Simiti, Ioan, N. Jumate, I. Chicinas,G. Batin. "Applications of scanning electron microscopy (SEM) in nanotechnologynanoscience." Rom. J. Phys 49, no. 9-10 (2004): 955-965.
۷ - [7] Cortadellas i Raméntol, Núria, Eva Fernández,Almudena Garcia. "Biomedicalbiological applications of scanning electron microscopy." Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemicalbiosciences research, Centres Científics i Tecnolōgics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part III. Biosciences technologies (BT), BT. 3, 10 p. (2012).
۸ - [8] Akhtar, Kalsoom, Shahid Ali Khan, Sher Bahadar Khan,Abdullah M. Asiri. "Scanning Electron Microscopy: PrincipleApplications in Nanomaterials Characterization." In Handbook of Materials Characterization, pp. 113-145. Springer, Cham, 2018.
۹ - [9] Kejzlar, Pavel, Martin Švec,Eva Macajová. "The usage of backscattered electrons in scanning electron microscopy." Manufacturing Technology 14, no. 3 (2014): 333-336.
۱۰ - [10] Chen, Zhongwei, Yanqing Yang,Huisheng Jiao. "Some applications of electron back scattering diffraction (EBSD) in materials research." In Scanning electron microscopy. IntechOpen, 2012.
خلیفه
۱۴۰۲/۱۰/۱۸مدیر سیستم
۱۴۰۲/۱۰/۱۹ممنون از همراهی شما
کمال خان
۱۴۰۲/۰۴/۱۴مدیر سیستم
۱۴۰۲/۰۵/۱۴میتونید این عنوان رو سرچ بفرمایید: strain calculation by backscattered electrons
تا مقالات و کتب مرتبط براتون آورده بشه مثل:
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4757-3205-4_19
سلیمانی آهوئی
۱۴۰۲/۰۲/۰۹مدیر سیستم
۱۴۰۲/۰۲/۱۴ممنون از نظر لطف شما
کمال خان
۱۴۰۱/۱۱/۱۸مدیر سیستم
۱۴۰۱/۱۱/۱۸ممنون از دقت نظر شما
مورد ذکر شده، اصلاح شد.
حافظ حلوایی‌پور
۱۴۰۱/۰۹/۲۹بسیار عالی و مفید،برای پژوهش‌هاي پیش رو بسیار مفید بود و قابلیت اجرا در آینده.
مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۹/۳۰گودرزیان
۱۴۰۱/۰۹/۲۸مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۹/۲۹ممنون از همراهیتون
علیزاده
۱۴۰۰/۱۲/۰۴خیلی مفید بود و بسیار عالی
مدیر سیستم
۱۴۰۰/۱۲/۰۶ممنون از حسن توجه شما
جلالی ویرثق
۱۴۰۰/۱۱/۰۷باسلام در شکل 8 قسمت ب در تصویر مشخص نیست.
مدیر سیستم
۱۴۰۰/۱۱/۰۹ممنون از حسن توجه شما
بررسی و اصلاح شد