بررسی و مقایسه آشکارسازهای سيستم‌هاى تفكيك انرژى و تفكيك طول موج در ميكروسكوپ الكترونى روبشى (بخش دوم)
بررسی و مقایسه آشکارسازهای سيستم‌هاى تفكيك انرژى و تفكيك طول موج در ميكروسكوپ الكترونى روبشى (بخش دوم)
با استفاده از انرژی و یا طول موج پرتو ایکس اطلاعاتی به دست می‌آید، بر این اساس دو نوع دستگاه آشکارسازی پرتو ایکس ایجاد می‌شود: دستگاه طیف‌سنج تفکیک انرژی و دیگری دستگاه طیف‌سنج تفکیک طول موج است. در دستگاه EDS اغلب از انواع مختلف آشکارسازهای نیمه‌رسانا مانندSi(Li)،SDD و HPGe استفاده می‌شود و از طرف دیگر در دستگاه WDS به‌طور معمول آشکارسازهای گازی از نوع شمارنده‌های تناسبی و یا آشکارسازهای سوسوزن مورد استفاده قرار می‌گیرند. هر چند عملکرد آشکارسازها و چگونگی آشکارسازی پرتوهای ایکس کاملا با یکدیگر متفاوت است اما هدف نهایی در هر دو نوع طیف‌سنجی، آشکارسازی انرژی یا طول موج پرتو ایکس مشخصه ساطع شده و آنالیز عنصری نمونه مورد نظر قرار گرفته در میکروسکوپ الکترونی روبشی است.
این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
2-1-2- بلور آشکارسازSi(Li)
1-2-1-2- برهم کنش پرتو ایکس با بلور Si(Li)
3-1-2- موازی‌ساز
4-1-2- ترانزیستور اثر میدان (FET)
5-1-2- سیستم خنک کننده آشکارساز
2-2- آشکارساز رانش سیلیکون(SDD)
1-2-2- اجزای تشکیل دهنده آشکارساز رانش سیلیکون (SDD)
3-2- آشکارساز ژرمانیومی فوق خالص (HPGe)
3- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
2-1-2- بلور آشکارسازSi(Li)
1-2-1-2- برهم کنش پرتو ایکس با بلور Si(Li)
3-1-2- موازی‌ساز
4-1-2- ترانزیستور اثر میدان (FET)
5-1-2- سیستم خنک کننده آشکارساز
2-2- آشکارساز رانش سیلیکون(SDD)
1-2-2- اجزای تشکیل دهنده آشکارساز رانش سیلیکون (SDD)
3-2- آشکارساز ژرمانیومی فوق خالص (HPGe)
3- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - معصومه قلبی آهنگرانی، صدیقه صادق‌حسنی، مجتبی نسب، «سیستم‌های تفکیک انرژی و تفکیک طول موج در میکروسکوپ الکترونی روبشی»ماهنامه فناوری‌نانو، سال هشتم اسفند 1388.
۲ - Zinin P.,"Microanalysis in Electron Microscopy (EDSWDS)"HIGP, University of Hawaii, Honolulu, USA
۳ - S.J.B.Reed., "Electron Microprobe AnalysisScanning Electron Microscopy in Geology"University of Cambridge, (2005), 978-0-511-12414-3
۴ - http://www.forensicevidence.net/iama/sem-edxtheory.html
۵ - http://nau.edu/cefns/labs/electron-microprobe/glg-510-class-notes/detection-of-signals
۶ - Tsoulfanidis N., Landsbrger SH. "MeasurementDetection of Radiation"University of Michigan, USA, (1983), 9780070653979
۷ - http://www.equipcoservices.com/support/tutorials/introduction-to-radiation-monitors/
۸ - ] https://www.uam.es/docencia/quimcursos/Scimedia/chem-ed/optics/detector/pd.htm
۹ - A.J.Garratt-Reed., D.C.Bell., "Energy-Dispersive X-Ray Analysis in the Electron Microscopy" Center for Materials ScienceEngineering, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge,Massachusetts, USA, (2003), 0-203-48342-1
۱۰ - "Silicon Drift Detector Explained" Oxford Instrument Explained-oxford instrument-the business of science
۱۱ - P.J.Potts., "Handbook of Silicate Rock Analysis"research fellow in earth sciences, theopen university, Milton Keynes, UK, (1987), 978-94-015-3990-6
۱۲ - Bob Hafner., "Energy Dispersive Spectroscopy on the SEM" Characterization Facility,
۱۳ - "The Best Choice of High Purity Germanium (HPGe) Detector", ORTEC, USA
۱۴ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2016 و شماره 13
امجدی
۱۴۰۱/۰۵/۲۷مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۶/۰۱300 میکرون هست
A
۱۴۰۱/۰۵/۱۷مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۵/۱۹ممنون از حسن توجه شما
بررسی و اصلاح شد