بررسی و مقایسه آشکارسازهای سيستم‌هاى تفكيك انرژى و تفكيك طول موج در ميكروسكوپ الكترونى روبشى (بخش سوم)
بررسی و مقایسه آشکارسازهای سيستم‌هاى تفكيك انرژى و تفكيك طول موج در ميكروسكوپ الكترونى روبشى (بخش سوم)
با استفاده از انرژی و یا طول موج پرتو ایکس اطلاعاتی به دست می‌آید، بر این اساس دو نوع دستگاه آشکارسازی پرتو ایکس ایجاد می‌شود: دستگاه طیف‌سنج تفکیک انرژی و دیگری دستگاه طیف‌سنج تفکیک طول موج است. در دستگاه EDS اغلب از انواع مختلف آشکارسازهای نیمه‌رسانا مانند Si(Li)و SDD و HPGe استفاده می‌شود و از طرف دیگر در دستگاه WDS به‌طور معمول آشکارسازهای گازی از نوع شمارنده‌های تناسبی و یا آشکارسازهای سوسوزن مورد استفاده قرار می‌گیرند. هر چند عملکرد آشکارسازها و چگونگی آشکارسازی پرتوهای ایکس کاملا با یکدیگر متفاوت است اما هدف نهایی در هر دو نوع طیف‌سنجی، آشکارسازی انرژی یا طول موج پرتو ایکس مشخصه ساطع شده و آنالیز عنصری نمونه مورد نظر قرار گرفته در میکروسکوپ الکترونی روبشی است.
این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
مقدمه
1- آشکارساز طیف‌سنج تفکیک طول موج
1-1- آشکارساز شمارنده تناسبی
2-1- آشکارساز سوسوزن NaI(Tl)
2- مقایسه آشکارساز طیف‌سنج تفکیک انرژی EDX با طیف‌سنج تفکیک طول موجWDX
1-2- قدرت تفکیک انرژی
2-2- نسبت پیک به نویز و آنالیز کمی
3-2- سرعت آنالیز و طیف خروجی
4-2- محدوه آنالیز
5-2- دمای نگهداری
6-2- ابعاد و قیمت دستگاه
3- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
نتیجه گیری
این مقاله شامل زیر فصل های زیر است:
مقدمه
1- آشکارساز طیف‌سنج تفکیک طول موج
1-1- آشکارساز شمارنده تناسبی
2-1- آشکارساز سوسوزن NaI(Tl)
2- مقایسه آشکارساز طیف‌سنج تفکیک انرژی EDX با طیف‌سنج تفکیک طول موجWDX
1-2- قدرت تفکیک انرژی
2-2- نسبت پیک به نویز و آنالیز کمی
3-2- سرعت آنالیز و طیف خروجی
4-2- محدوه آنالیز
5-2- دمای نگهداری
6-2- ابعاد و قیمت دستگاه
3- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - معصومه قلبی آهنگری، صدیقه صادق‌حسنی، مجتبی نسب، «سیستم‌های تفکیک انرژی و تفکیک طول موج در میکروسکوپ الکترونی روبشی» ماهنامه فناوری‌نانو، سال هشتم اسفند 1388.
۲ - Zinin P.,"Microanalysis in Electron Microscopy (EDSWDS)"HIGP, University of Hawaii, Honolulu, USA
۳ - S.J.B.Reed., "Electron Microprobe AnalysisScanning Electron Microscopy in Geology"University of Cambridge, (2005), 978-0-511-12414-3
۴ - Jenkins R., Gould R.W, "Quantitative X-ray Spectrometry" International Center for Diffraction Data Newtown Square, Pennsylvania, U.S.A, (1995), 0-8247-9554-7
۵ - “Wavelength Dispersive X-ray Microanalysis” Oxford Instruments Analytical, UK, (2002)
۶ - W.Robinson J., M.Skelly Frame E., “Undergraduate Instrumental Analysis “Louisiana State University Baton Rouge, Louisiana, U.S.A, (2005), 0-8247-5359-3
۷ - Tsoulfanidis N., Landsbrger SH. "MeasurementDetection of Radiation" (2011), 13: 978-1-4200-9188-5
۸ - Rene E.VanGrieken., Andrej A. Marcowicz., "Handbook of X-Ray Spectroscopy" University Of Antwerp, Belgium, (2002), 0-8247-0600-5
۹ - https://en.wikipedia.org/wiki/Full_width_at_half_maximum
۱۰ - Zinin P.,"Microanalysis in Electron Microscopy (EDSWDS)" HIGP, University of Hawaii, Honolulu, USA
۱۱ - گروه پرتو ایکس و میکروسکوپ الکترونی، «روش‌های پرتو ایکس در شناسایی مواد» پژوهشگاه صنعت نفت، تهران، ایران، (1389)، 4-6-91482-600-978
۱۲ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2016 و شماره 14
