بررسی انواع پوشش‌های رسانا به‌منظور تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی
بررسی انواع پوشش‌های رسانا به‌منظور تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی
امروزه مطالعه درباره خواص مواد بدون آگاهی از اطلاعات مربوط به ریزساختار آن‌ها امکان‌پذیر نیست. به‌منظور دستیابی به این مهم، استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی سیار رایج و حائز اهمیت است. با توجه به ضرورت به کارگیری باریکه الکترونی برای تصویربرداری در این میکروسکوپ‌ها و همچنین با در نظر گرفتن این مسئله که طیف گسترده‌ای از مواد هدایت الکتریکی مناسبی ندارند، استفاده از این روش باعث بروز مشکلاتی برای رسیدن به نتایج مطلوب می‌شود. برای این منظور، استفاده از پوشش هادی روی سطح نمونه‌های نیمه‌رسانا و نارسانا به‌عنوان بهترین راهکار ارائه شده‌است که به‌طور گسترده‌ای مورد استفاده قرار می‌گیرد.
در این مقاله ابتدا به انواع پوشش‌های استفاده شده روی نمونه‌های مورد بررسی در میکروسکوپ الکترونی روبشی اشاره می‌شود و در ادامه نیز، به دلایل استفاده از هر یک از آن‌ها و انواع روش‌های پوشش‌دهی خواهیم پرداخت.
این مقاله شامل سرفصل های زیر است:
1- انواع پوشش‌های اعمالی روی سطح نمونه
2- انواع روش‌های پوشش‌دهی
3- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
در این مقاله ابتدا به انواع پوشش‌های استفاده شده روی نمونه‌های مورد بررسی در میکروسکوپ الکترونی روبشی اشاره می‌شود و در ادامه نیز، به دلایل استفاده از هر یک از آن‌ها و انواع روش‌های پوشش‌دهی خواهیم پرداخت.
این مقاله شامل سرفصل های زیر است:
1- انواع پوشش‌های اعمالی روی سطح نمونه
2- انواع روش‌های پوشش‌دهی
3- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - JosephI.Goldstein et.al,"Scanning Electron Microscopy & X-Ray Microanalysis" Third Edition, Kluwer academic/Plenum Publishers, NewYork Boston, Dordrecht, London, Moscow, 2003.
۲ - "Scanning Electron Microscope A to Z", JEOL serving advanced technology.
۳ - SEM Q & A, JEOL serving advanced technology.
۴ - Patrick Echlin,”Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy & X-Ray Microanalysis” Cambridge Analytical Microscopy,UK, 2009.
۵ - Weilie Zhou, "Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques & Applications", University of New Orleans,2006.
۶ - Invitation to the SEM words, JEOL serving advanced technology.
۷ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2015 و شماره 10
مرادی
۱۴۰۲/۰۳/۲۴مدیر سیستم
۱۴۰۲/۰۳/۲۵این مقاله آزمون نداره