انواع روش‌های میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک و کاربردهای آن

انواع روش‌های میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک و کاربردهای آن
سطح مقاله

پیشرفته 2
کلمات کلیدی

میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک
ميكروسكوپ پروبي روبشي
نيروي الكترواستاتيك
EFM
امتیاز کاربران

۲ امتیاز از ۵ (۱ رای)

 
 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۳۸,۰۸۰
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۱۰۴
  • تعداد افراد شرکت کننده ۱۸
 
 

انواع روش‌های میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک و کاربردهای آن

در مقاله گذشته با عنوان « میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک »، به معرفی میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک پرداخته ‎شد.گفته شد میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک (EFM) یکی از اعضاي خانواده میکروسکوپ‌های پروبی روبشی است. در این ميكروسكوپ با اندازه‌گیری برهم‌کنش الکتروستاتیکی موضعي بین نوک سوزن رسانا و نمونه، نقشه ویژگی‌های الکتریکی نمونه به تصویر کشیده می‌شود. برای این منظور، یک ولتاژ بایاس بین نوک سوزن و نمونه اعمال می‌شود. از این ولتاژ برای ایجاد میدان الکتروستاتیک بین نوک سوزن و پایه و نیز برای میزان کردن این میدان استفاده می‌شود. فاز و فرکانس رزونانس تیرک با شیب شدت میدان الکتریکی تغییر کرده و برای ساخت تصویر EFM مورد استفاده قرار می‌گیرد. همچنین EFM می‌تواند برای تشخیص مناطق عایق و رسانا در نمونه استفاده شود. تصاویر EFM حاوی اطلاعات سودمندی درباره خواص الکتریکی نمونه مانند پتانسیل و توزیع بار در سطح نمونه بوده و یک ابزار سودمند برای آزمایش تراشه‌های ریزپردازنده زنده در مقیاس زیر میکرون است. در مقاله حاضر به بررسی انواع روش‌های میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک و کاربردهای آن پرداخته می‌شود.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- انواع روش‌های EFMa
 1-2- میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک استاندارد
 2-2- میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک پیشرفته
 3-2-میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک EXT
 4-2-میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک تماسی دینامیک (DC-EFM)
3- کاربردهای میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک
4- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
5-نتیجه‌گیری

جهت دانلود بر روی فایل صوتی کلیک راست کنید و Save As را انتخاب کنید


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید

منابـــع و مراجــــع
۱ - M. NakamuraH.Yamada, "Road map of Scanning probe microscopy", 2006, Springer.
۲ - www.parkafm.com "Park Systems, mode note".
۳ - www.eng.utah.edu Lecture 15: "Two special modes for AFM: Electrostatic Force Microscopy (EFM)Magnetic Force Microscopy (MFM)".
۴ - www.amplegoal.com.
۵ - J. Liu, "Phys. Chem." C 2009, 113, 9368-9374.
۶ - L. Chen, L. Brus, et al. J. "Phys. Chem". B 2005, 109, 1834-1838.
۷ - O. Cherniavskaya, L. Brus, el al. J. "Phys. Chem." B 2004, 108, 4946-4961.
۸ - Y. Hirata, F. Mizutani, H. Yokoyama, "Surf. Int. Anal." 27, 317 (1999).
۹ - G. E. Bridges et. al., J. Vac. Sci. "Technol." A 16, 830 (1998).
۱۰ - V. Wittpahl et. al., "Microelectron". Reliab. 39, 951 (1999).
۱۱ - S. Kitamura, K. Suzuki, M. Iwatsuki, "Appl. Surf. Sci." 140, 265 (1999).
۱۲ - N. Satoh et. al. "Appl. Surf. Sci." 188, 425 (2002).
۱۳ - T. Ohta, Y. Sugawara, S. Morita, Jap. J. "Appl. Phys." 35, L1222 (1996).
۱۴ - D. Gekhtman et. al., "Mater. React. Soc. Proc." 545, 345 (1999).
۱۵ - M. Nakamura et. al., "Synth. Metals" 137, 887 (2003).
۱۶ - M. Nakamura et. al., "Appl. Phys. Lett." 86, 122112 (2005).
۱۷ - M. Nakamura et. al., "Proceedings of International Symposium on Super Functionality Organic Devices. IPAP Conference Series" 6, 130 (2005).
۱۸ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2013 و شماره 3
ارسال نظر