اصول و کاربردهای میکروسکوپي نیروی پاسخ پیزو
اصول و کاربردهای میکروسکوپي نیروی پاسخ پیزو
میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو، تغییر شکل ماده پیزوالکتریک ناشی از میدان الکتریکی اعمال شده از سوزن یک میکروسکوپ نیروی روبشی را تشخیص می‌دهد و آن را اندازه‌گیری می‌کند و همچنین می‌تواند توپوگرافی و دامنه‌های (حوزه‌های) فروالکتریک با توان تفکیک جانبی چند نانومتری را نقشه‌برداری و ترسیم کند. این ویژگی‌ها، میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو را برای ثبت و تحقیق الگوهای حوزه فروالکتریک، از دیگر روش‌ها متمایز ساخته است. در این مقاله، اصول اساسی میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو در تصویربرداری حوزه، حالت‌های تصویربرداری، تجزیه و تحلیل تصاویر، حالت‌های پیشرفته میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو، کاربردها، مزایا و معایب دستگاه شرح داده می‌شود.
این مقاله شامل سرفصل های زیر است:
مقدمه
1- اصول اساسی ميكروسكوپ نيروي پاسخ پيزو
2- طیف‌سنجی میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو
3- پروب در ميكروسكوپ نیروی پاسخ پیزو
4- اثر پیزو
5- حالت‌های تصویربرداری PFM
6- تفاوت سیگنال‌های عمودي و جانبی در ميكروسكوپ نيروي پاسخ پيزوي
7- کاربرد میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو
8- مزایا و معایب
9- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
10- نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل های زیر است:
مقدمه
1- اصول اساسی ميكروسكوپ نيروي پاسخ پيزو
2- طیف‌سنجی میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو
3- پروب در ميكروسكوپ نیروی پاسخ پیزو
4- اثر پیزو
5- حالت‌های تصویربرداری PFM
6- تفاوت سیگنال‌های عمودي و جانبی در ميكروسكوپ نيروي پاسخ پيزوي
7- کاربرد میکروسکوپ نیروی پاسخ پیزو
8- مزایا و معایب
9- شبکه آزمایشگاهی فناوری راهبردی
10- نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Curie, P.J., Comptes Rendus, (1880) 91, 294.
۲ - Hankel, W. G., Sa chs, Abh, (1881) 12, 457.
۳ - WWW.roshd.ir
۴ - . Kalinin, S. V.; Rodriguez, B. J., S. Jesse, T. THundat, A. Gruverman, (2005). Electromechanical imaging of biological system with sub-10 nm resolution, APPL. Phys. Lett. 87, 053901.
۵ - . Gruverman, A. (1995). "Domain structurepolarization reversal in ferroelectrics studied by atomic force microscopy". Journal of Vacuum Science & Technology B: MicroelectronicsNanometer Structures 13: 1095.
۶ - Rodriguez, B.J.; Kalinin, S.V.; Shin, J.; Jesse, S.; Grichko, V.; Thundat, T.; Baddorf, A.P.; Gruverman, A. (2006). "Electromechanical imaging of biomaterials by scanning probe microscopy". Journal of Structural Biology 153 (2): 151.
۷ - WWW.wikipedia.org
۸ - Proksch, R.; Kalinin, S. Piezoresponse Force Microscopy with Asylum Research AFMs at Oak Ridge National Laboratory.
۹ - Shijie, Wu, (2007). Piezoresponse Force Microscopy, Application Note, Agilent Technologies.
۱۰ - Okuyama, M.; Ishibashi, Y, (2005). Ferroelectric Thin Film, Basic PropertiesDevice Physics for Memory Applications, Number 98 in Topics in Applied Physics Series, Springer-Verlag Publishing Company, Germany. See sections 35.2 in the chapter on Pb-based Ferroelectric Thin Films Prepared by MOCVD.
۱۱ - Alexe, M.; et.al. (1999). Applied Physics Letters, 75, 1158.
۱۲ - Reolofs, A.; et.al. (2000). Applied Physics Letters, 77, 3444.
۱۳ - Elieeev, E.A.; Kalinin, S.V.; Jesse, S.; Bravina, S.L.Morozovska, A.N. (2007). J. Appl.Phys. 102,014109.
۱۴ - Jesse, S.; Baddorf, A.P.; Kalinin, S.V. (2006). Nanotechnology 17, 1615.
۱۵ - Eng, L. M.; Guntherodt, H.J.; Roseman, G.; Skliar, A.; Oron, O.; Katz, MEger, D. (1998). J. Appl. Phys. 83, 5973.
۱۶ - Eng, L. M.; Guntherodt, H.J.; G. A. Schneider, G.A.; Kopke, U.; Munoz Saldana, J. (1999). J. APPl. Phys. Lett. 74, 233.
۱۷ - Abplanalp, M.; Eng, L.M.; Gunter, P. (1998). Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66A, S234.
۱۸ - Eng, L.M.; Abplanalp, M.; Gunter, P. (1998). Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 66A, S679.
۱۹ - Reolofs, A.; U. Bottger, U.; Waser, R.; Schlaphof, F.; Trogisch, S.; Eng, L.M. (2000). Appl. Phys. Lett. 77, 3444.
۲۰ - Kalinin, S.V.; Rodriguez, B. J.; Jesse, S.; Thundat, T.; Gruverman, A. (2005). nm "Electromechanical imaging of biological systems with sub-10 resolution". Applied Physics Letters 87: 053901.
۲۱ - Harnagea, C.; Alexe, M.; Hesse, D.; Pignolet, A. (2003). "Contact resonances in voltage-modulated force microscopy". Applied Physics Letters 83: 338.
۲۲ - فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2015 و شماره12
