آماده‌سازی نمونه‌های نانولوله کربنی و تصویربرداری از آنها با TEM
آماده‌سازی نمونه‌های نانولوله کربنی و تصویربرداری از آنها با TEM
نانولوله‌های کربنی که از صفحات کربن به ضخامت یک اتم و به شکل استوانه‌ای توخالی ساخته شده‌است در سال ۱۹۹۱ توسط سامیو ایجیما (از شرکت NEC ژاپن) کشف شد. بعد از ساخت اولین نانولوله، دانشمندان روی روش‌های سنتز این نانولوله فعالیت زیادی انجام دادند و توانستند به روش‌های مختلفی دست یابند. سپس سعی کردند با ارایه روش‌های متنوع، بر مشکلات موجود نیز فایق آیند، که بعضی از مشکلات تا حدی مرتفع و بعضی نیز هم‌چنان پابرجاست. در این میان، تصویربرداری از نانولوله‌ها بهترین روش برای بررسی کیفیت محصول نهایی است. به طور معمول، از TEM، SEM، STM وAFM برای تصویربرداری از این مواد استفاده می‌شود که هر یک شرایط آماده‌سازی و تصویربرداری خاص خود را دارد. در این مقاله به بررسی اجمالی پیرامون روش‌های آماده‌سازی و نکات مهم درباره تصویربرداری از نانولوله‌های کربنی پرداخته می‌شود.
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - - Xiaoxing Kea, Sara Balsa, Ainhoa Romo Negreirab, Thomas Hantschel, Hugo BenderGustaaf Van Tendeloo. "TEM sample preparation by FIB for carbon nanotube interconnects". Volume 109, Issue 11, October 2009, P1353–1359. Ultramicroscopy
۲ - Iijima, Megumi; Watabe, Toshiaki; Ishii, Shun; Koshio, Akira; Yamaguchi, Takashi; Bandow, Shunji; Iijima, Sumio; Suzuki, Kenji;Maruyama Yusei. "FabricationSTM-characterization of novel hybrid materials of DNA/carbon nanotube". Chemical Physics Letters, Vol. 414, No. 4-6, p520-524
۳ - Khabibulakh Katsiev, Andrei Kolmakov, Minghu FangaUlrike Diebolda. Characterization of individual SnO2 nanobelts with STM". Surface Science Volume 602, Issue 14, 15 July 2008, PL112-L114.
