12- روش های سنتز و آنالیز و کاربرد های لایه های نازک

12- روش های سنتز و آنالیز و کاربرد های لایه های نازک
سطح مقاله

پیشرفته 1
کلمات کلیدی

مسابقه ملی فناوری نانو
امتیاز کاربران

۴ امتیاز از ۵ (۱۰ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۱۲۷,۸۵۴
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۱۷۳۲
  • تعداد افراد شرکت کننده ۱۹۵
 
 

12- روش های سنتز و آنالیز و کاربرد های لایه های نازک

لایه نازک (Thin film) به لایه‌ای از مواد گفته می‌شود که دارای ضخامت نانومتری تا میکرومتری است. قرار گرفتن این لایه روی سطح قطعات باعث ایجاد خواص جدید و متفاوت در آن‌ها می‌شود. لایه نازک‌ها در گستره وسیعی از کاربردها مانند کاربردهای الکترونیکی، انرژی‌های نو و پوشش‌های سخت مقاوم در برابر خوردگی و سایش مورد استفاده قرار می‌گیرند. در این مقاله، به طور اجمالی به معرفی لایه نازک پرداخته می‌شود و سپس انواع روش‌های سنتز لایه‌های نازک‌ مانند روش‌های فیزیکی و شیمیایی مورد بحث و بررسی قرار می‌گیرد. هم‌چنین روش‌های آنالیز و کاربردهای لایه‌های نازک‌ به طور مفصل مورد مطالعه قرار خواهند گرفت.

این دوره شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- روش‌های سنتز لایه‌های نازک
1-2- روش‌های فیزیکی (Physical methods)
1-1-2- روش تبخیری
2-1-2- روش کندوپاش
2-2- روش‌های شیمیایی (Chemical Methods)
1-2-2- رسوب‌دهی شیمیایی از فاز بخار (Chemical Vapor Deposition; CVD)
2-2-2- آبکاری الکتریکی (Electroplating)
3-2-2- آبکاری الکترولس (Electroless Plating)
3- آنالیز و مشخصه‌یابی لایه‌های نازک
1-3- طیف‌سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس
2-3- طیف‌سنجی الکترون اوژه
3-3- طیف‌سنجی جرمی یون ثانویه
4- کاربرد لایه‌های نازک
1-4- ترانزیستور
2-4- مغناطیس‌های غول‌پیکر
3-4- سلول‌های خورشیدی
نتیجه‌گیری


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
 

منابـــع و مراجــــع
۱ - Gheorghiu, Anca, Ion Spanulescu,Anda Gheorghiu. "Econophysical Approaches for the Direct Foreign Investments." arXiv preprint arXiv:1101.4675 (2011).
۲ - Ansari, Anees A., Mansour Alhoshan, Mohamad S. Alsalhi,Abdull S. Aldwayyan. "Prospects of nanotechnology in clinical immunodiagnostics." Sensors 10, no. 7 (2010): 6535-6581.
۳ - Ellmer, Klaus, Andreas Klein,Bernd Rech, eds. Transparent conductive zinc oxide: basicsapplications in thin film solar cells. Vol. 104. Springer Science & Business Media, 2007.
۴ - Poortmans, Jef,Vladimir Arkhipov, eds. Thin film solar cells: fabrication, characterizationapplications. Vol. 5. John Wiley & Sons, 2006.
۵ - Bates, J. B., N. J. Dudney, G. R. Gruzalski, R. A. Zuhr, A. Choudhury, C. F. Luck,J. D. Robertson. "Fabricationcharacterization of amorphous lithium electrolyte thin filmsrechargeable thin-film batteries." Journal of power sources 43, no. 1-3 (1993): 103-110.
۶ - He, Yumin, Thomas Hamann,Dunwei Wang. "Thin film photoelectrodes for solar water splitting." Chemical Society Reviews (2019).
۷ - Venkatasubramanian, Rama, Edward Siivola, Thomas Colpitts,Brooks O'quinn. "Thin-film thermoelectric devices with high room-temperature figures of merit." Nature 413, no. 6856 (2001): 597.
۸ - Carcia, P. F., A. D. Meinhaldt,A. Suna. "Perpendicular magnetic anisotropy in Pd/Co thin film layered structures." Applied Physics Letters 47, no. 2 (1985): 178-180.
ارسال نظر

 
تعداد نظرات : ۱

  • صفرزاده

    ۱۴۰۰/۰۵/۲۸
    با سلام ؛ طبق مقاله یتحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES از بخش روش ها و تجهیزات شناسایی ؛ طبق این متن: طیف‌سنجی الکترون اوژه با تجزیه و تحلیل زاویه ARAES امکان مطالعه پروفیل عمقی غیرمخرب تا عمق چند لایه نازک به ضخامت حدود 100 آنگستروم را فراهم می‌کند. هم‌چنین، می‌توان پروفیل عمقی اوژه را با تغییر در هندسه آزمایش به‌دست آورد، چرا که آنالیز عمقی به زاویه انتشار الکترون اوژه بستگی دارد؛ روش انالیز الکترون اوژه تا عمق ۱۰ نانومتری را میتواند شناسایی کند ، در حالی در آزمون سخت سوالِ ک شکل زیر کدام یک از روش های انالیز لایه های نازک تا عمق ۵ نانومتری را نشان میدهد؟ گزینه درست را الکترون اوژه گفته که با متن گفته شده در تناقض است

    مدیر سیستم

    ۱۴۰۰/۰۹/۱۰
    سلام،
    با توجه به اینکه می‌توان پروفیل عمقی اوژه را با تغییر در هندسه آزمایش به‌دست آورد، چرا که آنالیز عمقی به زاویه انتشار الکترون اوژه بستگی دارد. با انتخاب زاویه انتشار مناسب می توان به عمق های پایین تر نیز دست یافت.بیشترین عمق آنالیز در این روش 5 نانومتر (15 لایه اتمی) است
    پایدارباشید