11- تحلیل و کاربرد الگوهای پراش اشعه ایکسXRD -بخش دوم
11- تحلیل و کاربرد الگوهای پراش اشعه ایکسXRD -بخش دوم
در دهه‌های اخیر، پراش اشعه ایکس به‌عنوان یک روش مشخصه‌یابی قابل اعتماد و پرکاربرد بسیار مورد توجه پژوهشگران علوم مختلف قرار گرفته است. در این مقاله، به طور مفصل به تحلیل الگوهای پراش اشعه ایکس مواد چندبلوری، و بررسی اطلاعات حاصل از آن مانند تعیین پارامتر شبکه، اندازه‌گیری تنش پسماند، تعیین نوع فاز، مقدار کمی هر فاز و تعیین میزان بلورینگی ساختار پرداخته می‌شود. سپس خطاهای مرتبط با پراش اشعه ایکس مانند جابه‌جایی نمونه و تنظیم اشتباه دستگاه و هم‌چنین، محدودیت‌های مشخصه‌یابی مواد با روش پراش اشعه ایکس مورد بحث و بررسی قرار می‌گیرد.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- انواع اطلاعات حاصل از الگوهای XRD
1-2- تعیین پارامتر شبکه
2-2- اندازه‌گیری تنش پسماند
3-2- تعیین فازها
4-2- تعیین کمی مقدار فاز
5-2- تعیین میزان بلورینگی ساختار
3- خطاهای مرتبط با پراش اشعه ایکس
4- محدودیت‌های روش XRD
نتیجه‌گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- انواع اطلاعات حاصل از الگوهای XRD
1-2- تعیین پارامتر شبکه
2-2- اندازه‌گیری تنش پسماند
3-2- تعیین فازها
4-2- تعیین کمی مقدار فاز
5-2- تعیین میزان بلورینگی ساختار
3- خطاهای مرتبط با پراش اشعه ایکس
4- محدودیت‌های روش XRD
نتیجه‌گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Cullity, Bernard Dennis. Elements of X-ray Diffraction. Addison-Wesley Publishing, 1956.
۲ - Bunaciu, Andrei A., Elena Gabriela UdriŞTioiu,Hassan Y. Aboul-Enein. "X-ray diffraction: instrumentationapplications." Critical reviews in analytical chemistry 45, no. 4 (2015): 289-299.
۳ - Goeta, A. E.,J. A. K. Howard. "Low temperature single crystal X-ray diffraction: advantages, instrumentationapplications." Chemical Society Reviews 33, no. 8 (2004): 490-500.
۴ - Monaco, Hugo L., Gilberto Artioli, Davide Viterbo, Giovanni Ferraris,C. Giacovazzo. Fundamentals of crystallography. Edited by Carmelo Giacovazzo. Vol. 7. Oxford: Oxford University Press, 2002.
۵ - Suryanarayana, Challapalli,M. Grant Norton. X-ray diffraction: a practical approach. Springer Science & Business Media, 2013.
۶ - Scardi, Paolo, Matteo Leoni,Kenneth Roy Beyerlein. "On the modelling of the powder pattern a nanocrystalline material." Zeitschrift für Kristallographie Crystalline Materials 226, no. 12 (2011): 924-933.
۷ - Azároff, Leonid V., Roy Kaplow, N. Kato, Richard J. Weiss, A. J. C. Wilson,R. A. Young. X-ray Diffraction. Vol. 3, no. 1. New York: McGraw-Hill, 1974.
۸ - Aly, Kamal A., N. M. Khalil, Yousif Algamal,Qaid MA Saleem. "Estimation of lattice strain for zirconia nano-particles based on Williamson-Hall analysis." Materials ChemistryPhysics 193 (2017): 182-188.
۹ - Jenkins, Ron,Robert L. Snyder. Introduction to X-ray powder diffractometry. Vol. 138. New York: Wiley, 1996.
۱۰ - Pecharsky, Vitalij K.,Peter Y. Zavalij. "The powder diffraction pattern." Fundamentals of Powder DiffractionStructural Characterization of Materials (2009): 151-202.
