11- میکروسکوپ نیروی مغناطیسی 1
11- میکروسکوپ نیروی مغناطیسی 1
میکروسکوپ‌های نیروی مغناطیسی، دسته دیگری از میکروسکوپ‌های پروبی روبشی را شامل می‌شوند که در بررسی‌های مربوط به خواص مغناطیسی کاربرد پیدا کرده‌اند. در مقالات مرتبط با این حوزه، ضمن معرفی این میکروسکوپ، به برخی برهمکنش‌ها، تکنیک‌ها و محاسبات مطرح پرداخته می‌شود. در مقاله نخست، ضمن بیان تاریخچه و سیستم کاری و نحوه عملکرد دستگاه، به برخی تکنیک‌ها و فرمول‌های مرتبط اشاره خواهد شد.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- سیستم کاری MFM
4- اندازه گیری نیروهای مغناطیسی
5- برهمکنش سوزن MFM و میدان مغناطیسی موضعی
6- برهمکنش سوزن MFM و نمونه؛ و حالت‌های کاری MFM
1-6- تکنیک MFM استاتیکی
2-6- تکنیک MFM دینامیکی (نوسانی)
7- نتیجه گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه
3- سیستم کاری MFM
4- اندازه گیری نیروهای مغناطیسی
5- برهمکنش سوزن MFM و میدان مغناطیسی موضعی
6- برهمکنش سوزن MFM و نمونه؛ و حالت‌های کاری MFM
1-6- تکنیک MFM استاتیکی
2-6- تکنیک MFM دینامیکی (نوسانی)
7- نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Y. Martin, H. K. Wickramasinghe, "Magnetic imaging by ‘‘force microscopy’’ with 1000 Å resolution", Appl. Phys. Lett. 50, 1455 (1987)
۲ - علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن"، تهران، پیک نور، (1385)
۳ - V. L. Mironov ,"Fundamentals of scanning probe microscopy", (2004).
۴ - Y. Martin, C.C. Williams, H.K. Wickramasinghe, Atomic force microscope-force mappingprofiling on a sub 100A ˚ scale, J. Appl. Phys. 61, 4723–4729 (1987).
۵ - D. Rugar, H.J. Mamin, P. Guethner, S.E. Lambert, 1.E. Stern, 1. McFadyenT. Yogi, 'Magnetic force microscopy: general principlesapplication longitudinal recording media' ,J. Appl. Phys. 68 (3), 1169 (1990)
۶ - J.L. HutterJ. Bechhoefer: 'Manipulation of van der Waals forces to improve image resolution in atominc-force microscopy', J. Appl. Phys. 73 (9), 4123- 4129, (1993).
۷ - D.O. Koralek, W.F. Heinz, M.D. Antonik, A. Baik,J.H. Hoh:.'Proning deep interaction potentials with white-noise-driven atomic force microscope cantilevers', Appl. Phys. Lett. 76 (20), 2952 (2000)
۸ - C. Bustamante, S.B. Smith, J. Liphardt,D. Smith: 'Single molecule studies of DNA mechanics' ,Current Opinion in structural Biology. 10,279 (2000)
۹ - E. Evans: 'Probing the relation between force-lifetimechemisty in single molecular bonds' ,Ann. Rev. Biophys. Biomol. Structure 30 (2001).
۱۰ - F.J. Giessibl: In S. Morita, R. Wiesendanger,E. Meyer (Eds.), oncontaet Atomic Force Microscopy (Springer, Berlin, 2002) p.ll
۱۱ - U. Rabe, K. Janser,W. Arnold: 'Vibrations of freesurface-coupled atomic force microscope cantilevers: Theoryexperiment', Rev. Sci. lnstr. 67,(9), 3281 (1996).
۱۲ - H.J. ButtM. Jaschke: 'Calculation of thermal noise in atomic force microscopy', Nanotechnology 6 (1), 1 (1995).
۱۳ - T. Bouhacina, J.P. Aime, S. Gauthier,D. Michel: Phys. Rev. B 56, 7694, (1997).
۱۴ - T. Trenkler, T. Hantschel, R. Stephenson, P. Dewolf, W. Vande ors. L Hellemans, A. Malave, D. Buchel, E. Oesterschulze, W. Kulisch, P. Niedermann. T. Sulzbach,O. Ohlsson: 'Evaluating probes for electrical atomi force microscopy', J. Vac. Sci. Technol. B 18 (1),418 (2000).
۱۵ - S. Rast, Ch. Watinger, U. Gysin,E. Meyer: Nanotechnology 11, 169 (2000).
۱۶ - H.J. Mamin, D. Rugar, J.E. Stern, , B.D. Teris,S.E. Lambert: 'Force microscopy of magnetization patterns in longitudinal recording media', Appl. Phys. Lett. 53 (16),1563 (1988).
۱۷ - P. Grutter, A. Wadas, E. Meyer, H.-R. Hidber,H.-1. Guntherodt.Magnetic force microscopy ofCoCr thin film', 1. Appl. Phys. 66 (12), 6001 (1989)
۱۸ - C. Schoenenberger, S.F. Alvarado, S.E. Lambert,I.L. Sanders, Magnetic force microscopyits application to longitudinal thin films, J. Mag. Magn. Mat.93 123 (1991).
۱۹ - U. Hartmann: 'Magnetic force microscopyits application to longitudinal thin films' , Advanced Materials 2 (11), 550 (1990).
۲۰ - R. Howland, L. Benatar, "A PRACTICAL GUIDE TO SCANNING PROBE MICROSCOPY", ThermoMicroscopes, (2000).
۲۱ - E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
۲۲ - I.E.Tamm - "Fundamentals of the theory of electricity", Publisher: Moscow, Mir, 1979.
ریاضی
۱۴۰۱/۰۴/۲۱مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۴/۲۷بعضی از مقالات بخش آزمون ندارند،سعی برآن است که به این مقالات نیز این بخش اضافه شود