11- معرفی سیستم های طبقه بندی اسناد پتنت

11- معرفی سیستم های طبقه بندی اسناد پتنت
سطح مقاله

تخصصی
کلمات کلیدی

مسابقه ملی فناوری نانو
امتیاز کاربران

۵ امتیاز از ۵ (۳ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۱۱۵,۷۹۰
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۱۲۸۷
  • تعداد افراد شرکت کننده ۱۵۶
 
 

11- معرفی سیستم های طبقه بندی اسناد پتنت

هر چند آمار دقیقی در مورد تعداد اسناد پتنتی که از آغاز سیستم پتنت منتشر شده است، وجود ندارد، اما می‌توان پیش‌بینی کرد که امروز بیش از 80 میلیون سند پتنت در جهان وجود دارد. این تعداد روز به روز در حال افزایش است؛ مثلاً بر طبق آمار وایپو در سال 2006 میلادی، سالانه حدود 2 میلیون سند پتنت، به صورت تقاضانامه و گرنت شده، به زبان‌های مختلف منتشر می‌شود. این حجم عظیم پتنت، غنی از اطلاعات علمی و فناورانه است. اما زمانی از این منبع عظیم می‌توان به نحو بهینه بهره‌برداری کرد که بتوان پتنت‌ها را به راحتی جستجو و بازیابی کرد. بنابراین نیاز هست که این پتنت‌ها به صورت نظام‌مند سامان‌دهی شود. بدین منظور تاکنون چندین سیستم طبقه‌بندی پتنت ارائه شده است. در این مقاله سیستم‌های مختلف طبقه‌بندی پتنت از قبیل سیستم طبقه‌بندی بین‌المللی پتنت (IPC)، سیستم طبقه‌بندی مشترک پتنت (CPC)، سیستم طبقه‌بندی اروپا (ECLA)، سیستم طبقه‌‎بندی پتنت آمریکا (USPC)، سیستم طبقه‎بندی پتنت آلمان (DPK و DEKLA) و سیستم طبقه‌بندی ژاپن (FI و F-terms) معرفی خواهد شد. در مقالات بعدی، سیستم‌های طبقه‌بندی که بیشتر مورد توجه هستند، یعنی IPC و CPC، با تفصیل بیشتر بیان خواهد شد. سپس روش‌ سیستماتیک و نیز روش‎ها و ابزارهای کمکی موجود از قبیل فهرست کلمات راهنما، ابزار Search Terms، ابزار IPCCAT و روش پتنت‎های مشابه برای استخراج کد طبقه‎بندی یا انجام طبقه‎بندی یک سند پتنت با ذکر مثال تشریح خواهد شد.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- طبقه‌بندی پتنت
3- سیستم طبقه‌بندی بین‌المللی پتنت، IPC

4- سیستم طبقه‌بندی مشترک پتنت، CPC
5- سیستم طبقه‌بندی اروپا، ECLA
6- سیستم طبقه‌بندی پتنت آمریکا، USPC
7- سیستم طبقه‎بندی پتنت آلمان، DPK و DEKLA
8- سیستم طبقه‌بندی ژاپن، FI و F-terms


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
ارسال نظر

 
تعداد نظرات : ۲

  • غیاث آبادی فراهانی

    ۱۴۰۱/۰۱/۲۲
    در بخش 7- سیستم طبقه‎بندی پتنت آلمان، DPK و DEKLA خط آخر به جای DEKLA نوشته شده DELKA

    مدیر سیستم

    ۱۴۰۱/۰۱/۲۳
    سلام،
    ممنون از حسن توجه شما
    بررسی و اصلاح شد
  • دایی رضایی

    ۱۴۰۰/۰۴/۱۱
    در اداره ثبت اختراع ژاپن JPO از کدام‌یک از بخش‎های پتنت جهت طبقه‌بندی آن استفاده نمی‎شود؟ پاسخ تشریحی : در اداره ثبت اختراع ژاپن از سیستم‌های FI و F-terms جهت طبقه‌بندی اسناد پتنت استفاده می‎شود. در سیستم FI طبقه‎بندی بر اساس ادعاها انجام می‌شود؛ در حالی که در سیستم F-terms از تمام بخش‌های پتنت به جز چکیده آن استفاده می‎شود. بنابراین می‎توان گفت در این اداره از چکیده اختراع جهت طبقه‎بندی اسناد پتنت استفاده نمی‎شود. چکیده اختراع خلاصه اختراع شرح اختراع ادعاهای اختراع ۲ - کدام‌ یک از بخش‎های سند پتنت، هنگام طبقه‎بندی آن، مورد استفاده قرار می‎گیرد؟ پاسخ تشریحی : در سیستم FI طبقه‌بندی بر اساس ادعاها انجام می‎شود، در حالی که در سیستم F-terms از تمام بخش‎های پتنت به جز چکیده آن استفاده می‎شود. بنابراین با توجه به سیستم طبقه‌بندی از بخش‌های مختلف سند پتنت جهت طبقه‎بندی آن استفاده می‌شود. چکیده پتنت ادعاهای پتنت شرح اختراع پتنت بستگی به سیستم طبقه‌بندی دارد. این سوال در جزوه نیست خواهشا اصلاحش کنین و در داخل امتحانم ازش نیارین چیزی که خارج از جزوس

    مدیر سیستم

    ۱۴۰۰/۰۹/۰۷
    سلام،
    اداره ثبت اختراع ژاپن (JPO)، سیستم File Index (FI) و F-terms را جهت طبقه‎بندی اسناد پتنت و سازماندهی جستجوی آن‎ها طراحی کرده است. سیستم FI کاملاً مبتنی بر سیستم IPC است. در حقیقت محدودیت‎های سیستم IPC با 70000 زیرمجموعه سبب شد تا این اداره IPC را گسترش دهد و سیستم FI را با 190000 گروه فرعی معرفی کند. گروه‌های فرعی سیستم FI با افزودن نماد زیرمجموعه (subdivision symbols) متشکل از شماره سه رقمی و نماد تمایز (discrimination symbols) متشکل از یک حرف به گروه‎های IPC نامگذاری می‎شود. به طور مثال می‎توان کد «C02F 9/00, 501 A» را ذکر کرد. در این سیستم، اسناد پتنت بر اساس ادعاها طبقه‎بندی می‎شود. بر خلاف سیستم FI، سیستم F-terms که متشکل از حدود 360000 مکان طبقه‎بندی است، مستقل از سیستم IPC است و در این سیستم از تمام بخش‎های پتنت به جز چکیده آن، استفاده می‎شود.

    طبق متن بالا این سوال بخشی از مقاله است.