11- تحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES
11- تحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES
در سال‌های گذشته، روش‌های نوین مشخصه‌یابی عنصری شامل روش طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) و روش طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES) به‌عنوان روش‌هایی پرکاربرد و قدرتمند بسیار مورد توجه قرار گرفته‌اند. در این مقاله به‌طور مفصل به تحلیل داده‌های کمی و کیفی این دو روش و پروفیل عمقی پرداخته شده، و هم‌چنین مزایا و محدودیت‌های آن‌ها مورد بحث و بررسی قرار خواهند گرفت.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2- طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس
1-2- آنالیز کیفی
2-2- آنالیز کمی
3-2- پروفیل عمقی
4-2- محدودیت‌ها
3- طیف‌سنجی الکترون اوژه
1-3- آنالیز کیفی
2-3- آنالیز کمی
3-3- اطلاعات شیمیایی
4-3- پروفیل عمقی
5-3- محدودیت‌ها
نتیجه گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2- طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس
1-2- آنالیز کیفی
2-2- آنالیز کمی
3-2- پروفیل عمقی
4-2- محدودیت‌ها
3- طیف‌سنجی الکترون اوژه
1-3- آنالیز کیفی
2-3- آنالیز کمی
3-3- اطلاعات شیمیایی
4-3- پروفیل عمقی
5-3- محدودیت‌ها
نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Watts, John F.,John Wolstenholme. "An introduction to surface analysis by XPSAES." (2003).
۲ - Woicik, Joseph C.,Joseph Woicik, eds. Hard X-ray photoelectron spectroscopy (HAXPES). Vol. 59. Heidelberg: Springer, 2016.
۳ - Halim, Joseph, Kevin M. Cook, Michael Naguib, Per Eklund, Yury Gogotsi, Johanna Rosen,Michel W. Barsoum. "X-ray photoelectron spectroscopy of multi-layered transition metal carbides (MXenes)." Applied Surface Science 362 (2016): 406-417.
۴ - Nguyen, Luan, Franklin Feng Tao, Yu Tang, Jian Dou,Xiao-Jun Bao. "Understanding catalyst surfaces during catalysis through near ambient pressure X-ray photoelectron spectroscopy." Chemical reviews 119, no. 12 (2019): 6822-6905.
۵ - Shard, Alexander G. "X-ray photoelectron spectroscopy." In Characterization of Nanoparticles, pp. 349-371. Elsevier, 2020.
۶ - Gunawardane, Richard P.,Christopher R. Arumainayagam. "Auger electron spectroscopy." In Handbook of applied solid state spectroscopy, pp. 451-483. Springer, Boston, MA, 2006.
۷ - Powell, Cedric J., Aleksander Jablonski, I. S. Tilinin, S. Tanuma,David R. Penn. "Surface sensitivity of Auger-electron spectroscopyX-ray photoelectron spectroscopy." Journal of electron spectroscopyrelated phenomena 98 (1999): 1-15.
۸ - Chasoglou, Dimitris, Eduard Hryha, Mats Norell,Lars Nyborg. "Characterization of surface oxides on water-atomized steel powder by XPS/AES depth profilingnano-scale lateral surface analysis." Applied surface science 268 (2013): 496-506.
۹ - Smetyukhova, T. N., A. V. Druzhinin,D. A. Podgorny. "Features of the Auger spectra of Ti 2 C, SiC,WC." Journal of surface investigation: X-ray, SynchrotronNeutron Techniques 11, no. 2 (2017): 414-419.
مومنی
۱۴۰۰/۰۵/۳۰سلام وقتتون بخیر در پایان مقاله گفته شده که کاربردهای صنعتی AES هم شرح داده شده ولی حرف خاصی در این مورد گفته نشده
مدیر سیستم
۱۴۰۰/۰۹/۰۱