11- تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM - بخش دوم
11- تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM - بخش دوم
میکروسکوپ الکترونی روبشی یک ابزار بسیار توانمند برای مشاهده پدیده‌های سطحی با استفاده از باریکه‌ای متمرکز از الکترون‌ها است. با استفاده از این نوع میکروسکوپ می‌توان علاوه بر مطالعه مورفولوژی سطح، ترکیب شیمیایی سطح، مکان دقیق هر کدام از عناصر و جهت‌گیری دانه‌ها را هم مورد بررسی قرار داد. در این مقاله، به طور مفصل به تحلیل تصاویر حاصل از میکروسکوپ الکترونی روبشی، و اطلاعاتی که می‌توان از هر تصویر به‌دست آورد، پرداخته می‌شود.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تعیین ترکیب شیمیایی سطح
1-2- نوع عناصر و مقدار آن‌ها
3- اطلاعات حاصل از پراش الکترون برگشتی (Electron backscatter diffraction; EBSD)
1-3- تعیین فاز، تحولات فازی و جهت‌گیری
2-3- محاسبه کرنش، چرخش بلوری و نابه‌جایی‌ها
نتیجه گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تعیین ترکیب شیمیایی سطح
1-2- نوع عناصر و مقدار آن‌ها
3- اطلاعات حاصل از پراش الکترون برگشتی (Electron backscatter diffraction; EBSD)
1-3- تعیین فاز، تحولات فازی و جهت‌گیری
2-3- محاسبه کرنش، چرخش بلوری و نابه‌جایی‌ها
نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Borrajo-Pelaez, Rafael,Peter Hedström. "Recent developments of crystallographic analysis methods in the scanning electron microscope for applications in metallurgy." Critical Reviews in Solid StateMaterials Sciences 43, no. 6 (2018): 455-474.
۲ - Sneddon, Glenn C., Patrick W. Trimby,Julie M. Cairney. "Transmission Kikuchi diffraction in a scanning electron microscope: A review." Materials ScienceEngineering: R: Reports 110 (2016): 1-12.
۳ - Smith, K. C. A.,C. W. Oatley. "The scanning electron microscopeits fields of application." British Journal of Applied Physics 6, no. 11 (1955): 391.
۴ - Muscariello, Livio, Francesco Rosso, Gerardo Marino, Antonio Giordano, Manlio Barbarisi, Gennaro Cafiero,Alfonso Barbarisi. "A critical overview of ESEM applications in the biological field." Journal of cellular physiology 205, no. 3 (2005): 328-334.
۵ - Baba-Kishi, K. Z. "Review Electron backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope for crystallographic analysis." Journal of materials science 37, no. 9 (2002): 1715-1746.
۶ - Vida-Simiti, Ioan, N. Jumate, I. Chicinas,G. Batin. "Applications of scanning electron microscopy (SEM) in nanotechnologynanoscience." Rom. J. Phys 49, no. 9-10 (2004): 955-965.
۷ - Cortadellas i Raméntol, Núria, Eva Fernández,Almudena Garcia. "Biomedicalbiological applications of scanning electron microscopy." Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemicalbiosciences research, Centres Científics i Tecnolōgics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part III. Biosciences technologies (BT), BT. 3, 10 p. (2012).
۸ - Akhtar, Kalsoom, Shahid Ali Khan, Sher Bahadar Khan,Abdullah M. Asiri. "Scanning Electron Microscopy: PrincipleApplications in Nanomaterials Characterization." In Handbook of Materials Characterization, pp. 113-145. Springer, Cham, 2018.
۹ - Kejzlar, Pavel, Martin Švec,Eva Macajová. "The usage of backscattered electrons in scanning electron microscopy." Manufacturing Technology 14, no. 3 (2014): 333-336.
۱۰ - Chen, Zhongwei, Yanqing Yang,Huisheng Jiao. "Some applications of electron back scattering diffraction (EBSD) in materials research." In Scanning electron microscopy. IntechOpen, 2012.
شاکری
۱۴۰۱/۰۵/۲۵مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۵/۲۶ممنون از حسن توجه شما
بررسی و اصلاح شد
محمدزاده
۱۴۰۰/۱۱/۲۶مدیر سیستم
۱۴۰۰/۱۱/۲۷از حسن توجه شما سپاسگزاریم
بررسی و اصلاح شد
برقرار باشید
امینی نجف ابادی
۱۴۰۰/۰۴/۲۹سوال آسان! شکل الف اصلا تنگستن وجود نداره؟!!؟ولی جواب کدام ماده بیشترین درصد وزنی رو داره زده تنگستن!!!و جالب که تو هر تکرار ازمون بازم نیکل به عنوان جواب صحیح مورد قبول نیست!
مدیر سیستم
۱۴۰۰/۰۹/۰۶سلام ، با تشکر از توجه شما
بررسی و اصلاح شد