11- تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM- بخش اول
11- تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM- بخش اول
میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope; SEM) یک دستگاه پیشرفته است که به‌طور گسترده‌ای برای مشاهده پدیده‌های سطحی مورد استفاده قرار می‌گیرد. نمونه مورد مطالعه با استفاده از الکترون‌های پرانرژی در میکروسکوپ الکترونی روبشی تحت تصویربرداری قرار گرفته و الکترون‌ها/اشعه ایکس خروجی مورد بررسی قرار می‌گیرند. الکترون‌ها/اشعه ایکس خروجی حاوی اطلاعاتی درباره توپوگرافی، مورفولوژی، ترکیب شیمیایی، جهت دانه‌ها، اطلاعات کریستالوگرافی و غیره هستند. در این مقاله، به طور مفصل به تحلیل تصاویر حاصل از میکروسکوپ الکترونی روبشی، و اطلاعاتی که میتوان از هر تصویر به‌دست آورد، پرداخته می‌شود.
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2-اطلاعات تصاویر حاصل از الکترون‌های ثانویه
1-2- تعیین مورفولوژی سطحی
2-2- بررسی سطح مقطع
3-2- بررسی سطح شکست
4-2- بررسی خوردگی
5-2- بررسی‌های تریبولوژیکی
3- اطلاعات تصاویرحاصل ازالکترون‌های برگشتی
نتیجه گیری
این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2-اطلاعات تصاویر حاصل از الکترون‌های ثانویه
1-2- تعیین مورفولوژی سطحی
2-2- بررسی سطح مقطع
3-2- بررسی سطح شکست
4-2- بررسی خوردگی
5-2- بررسی‌های تریبولوژیکی
3- اطلاعات تصاویرحاصل ازالکترون‌های برگشتی
نتیجه گیری
لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Borrajo-Pelaez, Rafael,Peter Hedström. "Recent developments of crystallographic analysis methods in the scanning electron microscope for applications in metallurgy." Critical Reviews in Solid StateMaterials Sciences 43, no. 6 (2018): 455-474.
۲ - Sneddon, Glenn C., Patrick W. Trimby,Julie M. Cairney. "Transmission Kikuchi diffraction in a scanning electron microscope: A review." Materials ScienceEngineering: R: Reports 110 (2016): 1-12.
۳ - Smith, K. C. A.,C. W. Oatley. "The scanning electron microscopeits fields of application." British Journal of Applied Physics 6, no. 11 (1955): 391.
۴ - Muscariello, Livio, Francesco Rosso, Gerardo Marino, Antonio Giordano, Manlio Barbarisi, Gennaro Cafiero,Alfonso Barbarisi. "A critical overview of ESEM applications in the biological field." Journal of cellular physiology 205, no. 3 (2005): 328-334.
۵ - Baba-Kishi, K. Z. "Review Electron backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope for crystallographic analysis." Journal of materials science 37, no. 9 (2002): 1715-1746.
۶ - Vida-Simiti, Ioan, N. Jumate, I. Chicinas,G. Batin. "Applications of scanning electron microscopy (SEM) in nanotechnologynanoscience." Rom. J. Phys 49, no. 9-10 (2004): 955-965.
۷ - Cortadellas i Raméntol, Núria, Eva Fernández,Almudena Garcia. "Biomedicalbiological applications of scanning electron microscopy." Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemicalbiosciences research, Centres Científics i Tecnolōgics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part III. Biosciences technologies (BT), BT. 3, 10 p. (2012).
۸ - Akhtar, Kalsoom, Shahid Ali Khan, Sher Bahadar Khan,Abdullah M. Asiri. "Scanning Electron Microscopy: PrincipleApplications in Nanomaterials Characterization." In Handbook of Materials Characterization, pp. 113-145. Springer, Cham, 2018.
۹ - Kejzlar, Pavel, Martin Švec,Eva Macajová. "The usage of backscattered electrons in scanning electron microscopy." Manufacturing Technology 14, no. 3 (2014): 333-336.
کمانگر
۱۴۰۱/۰۵/۱۲مدیر سیستم
۱۴۰۱/۰۵/۱۵بررسی سطوح شکست و تعیین مکانیزم‌های جوانه‌زنی و رشد ترک از اهمیت ویژه‌ای در طراحی‌های صنعتی برخوردار است، چرا که با داشتن اطلاعات مناسب در مورد چگونگی وقوع شکست میتوان با اتخاذ تدابیری کاربردی، از وقوع آن جلوگیری کرده یا تلفات ناشی از آن را به حداقل رساند. نوع شکست رخ داده و اینکه شکست ترد بوده یا نرم را میتوان با بررسی مورفولوژی سطح شکست درک کرد. هم‌چنین، با استفاده از تصاویر شکست میتوان مراکزی که ترک در آن‌ها جوانه زده و رشد می‌کند را هم شناسایی کرد. به همین دلیل، گزاره "جلوگیری از شکست" صحیح است.
صمدیان
۱۴۰۰/۰۴/۲۸سلام تو سوالی که گفته شده طبق تصویر کدام فاز دارای بیشترین وزن اتمی است و تو جواب هم نوشته روشن ترین تصویر ولی گزینه صحیح باهاش جور در نمیاد جواب مگه bt نمیشه؟
مدیر سیستم
۱۴۰۰/۰۹/۰۶سلام، با تشکر از توجه شما
بررسی و اصلاح شد