10- سیستم های تفکیک انرژی و تفکیک طول موج در میکروسکوپ الکترونی روبشی

10- سیستم های تفکیک انرژی و تفکیک طول موج در میکروسکوپ الکترونی روبشی
سطح مقاله

مقالات منتخب ماهنامه فناوری نانو
کلمات کلیدی

مسابقه ملی فناوری نانو
امتیاز کاربران

۳ امتیاز از ۵ (۴ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۱۷,۱۱۰
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۹۰۶
  • تعداد افراد شرکت کننده ۱۰۶
 
 

10- سیستم های تفکیک انرژی و تفکیک طول موج در میکروسکوپ الکترونی روبشی

عناصر دارای مشخصات متنوعی هستند که برای تعیین هر کدام از آن‌ها، ابزار و وسایل دقیقی مورد نیاز است، سیستم EDS (Energy Dispersive X- ray Spectroscopy)، به عنوان ابزاری برای طیف‌سنجی تفکیک انرژی (EDX (EDX or (or EDS or EDAX):energy – dispersive X-ray Spectroscopy) یا EDAX) و سیستم WDS (Wavelenght Dispersive X-ray Spectroscopy) به عنوان طیف‌سنجی تفکیک طول موج (WDX (WDX (or WDS or WDXRF): Wavelenght dispersive X-ray Spectroscopy) یا WDXRF (WDXRF)) معرفی شده‌است. این سیستم‌ها به عنوان تجهیزات جانبی دستگاه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) مورد استفاده قرار می‌گیرند. در طیف‌سنجی EDS، با اندازه‌گیری انرژی پرتوهای X منتشر شده از نمونه، امکان بررسی کمی و کیفی نمونه میسر می‌شود. در طیف‌سنجی WDS، امواج پرتو X منتشر‌شده، بر اساس طول موج، دسته‌بندی و تفکیک می‌شوند و مورد بررسی قرار می‌گیرند. با استفاده از این روش‌ها می‌توان آنالیز‌های کمی و کیفی روی نمونه انجام داده، نوع و میزان عناصر موجود در نمونه را مشخص کرد.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1. مقدمه
2. اساس کار سیستم‌های EDS و WDS

3. کاربرد سیستم EDS
1.3. از محدودیت‌های کاربردی سیستم EDS می‌توان به موارد زیر اشاره کرد
4. کاربرد سیستم WDS

1.4. از محدودیت‌های کاربردی سیستم WDS می‌توان به موارد ذیل اشاره کرد
5. مزایای استفاده از سیستم‌های EDS و WDS

6. مقایسه دو سیستم EDS و WDS
7. جمع‌بندی


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Goldstein, J. I.; Newbury, D. E.; Echlin, P.; Joy, D. C.; Lyman, C. E.; Lifshin, E.; Sawyer, L.C.; Michael, J. R. (2003) , Scanning Electron MicroscopyX-Ray Microanalysis, Springer, ISBN 0306472929.
۲ - http://www.microanalytical.com/sem.html
۳ - Egerton,R. F. (2005) Physical principles of electron microscopy: an introduction to TEM, SEM,AEM. Springer, 202.
۴ - Reimer, L. (1998) Scanning Electron Microscopy: Physics of image formatiClarke, A. R. (2002) Microscopy techniques for materials science. CRC press (electronic resource)
ارسال نظر