طیف ‌نگاری الکترون ‌های اوژه AES

طیف ‌نگاری الکترون ‌های اوژه AES
سطح مقاله

پیشرفته 1
کلمات کلیدی

فرایند اوژه
اثر اوژه
امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)

 
مقالات مرتبط

 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۸۴۴
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۳۴
  • تعداد افراد شرکت کننده ۵
 
 

طیف ‌نگاری الکترون ‌های اوژه AES

از آن‌جایی که برهمکنش الکترون با اتم‌های ماده زیاد است و عمق نفوذ الکترون در ماده اندک است، آنالیزهایی که مبتنی بر فرود الکترون بر سطح ماده است مانند طیف‌نگاری الکترونی اوژه (AES) برای مطالعه سطح مواد، به کار برده می‌شود. الکترون‌های اوژه برای عنصرسنجی و تعیین ترکیب سطح ماده استفاده می‎شوند. طیف‎نگاری الکترونی اوژه بر اساس اثر اوژه است. اثر اوژه، به فرایند بدون تابشی گفته می‎شود که در آن اتم یا یونی که قبلاً با از دست دادن یکی از الکترون‎های پوسته داخلی یونیزه شده است، جای خالی لایه داخلی را با یک الکترون لایه خارجی پر می‎کند و هم‌زمان یکی دیگر از الکترون‎های لایه خارجی را به بیرون از اتم می‎فرستد. این الکترون‎ها پس از ارسال به تحلیلگر انرژی و تعیین انرژی جنبشی آن‌ها، به آشکارساز هدایت می‎شوند تا تعداد الکترون‌های اوژه تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند. در نهایت با توجه به این که سیگنال اوژه ضعیف است، مشتق شدت الکترون‌های اوژه برحسب انرژی جنبشی الکترون اوژه رسم می‎شود. 

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه

2- اجزای تشکیل‎دهنده طیف‎نگار الکترون اوژه
 1-2- منابع تولید الکترون
 2-2- تحلیلگر انرژی
 3-2- آشکارساز
3- نمونه
4- طیف الکترون اوژه
5- میکروسکوپی روبشی اوژه (Scanning Auger Microscopy (SAM


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - . Watts, J. F., Wolstenholme, J. “An Introduction to Surface Analysis by XPSAES”, 2nd Edition, New York, Wiley (2003).
۲ - Prutton, M. “Surface Physics”, 2nd Edition, New York, Oxford University Press (1985).
ارسال نظر