تحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES

تحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES
سطح مقاله

پیشرفته 2
نویسندگان

کلمات کلیدی

امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)

 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۷۵۰
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۳۹
  • تعداد افراد شرکت کننده ۶
 
 

تحلیل داده های حاصل از روش های نوین مشخصه یابی عنصری: XPS وAES

در سال‌های گذشته، روش‌های نوین مشخصه‌یابی عنصری شامل روش طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) و روش طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES) به‌عنوان روش‌هایی پرکاربرد و قدرتمند بسیار مورد توجه قرار گرفته‌اند. در این مقاله به‌طور مفصل به تحلیل داده‌های کمی و کیفی این دو روش و پروفیل عمقی پرداخته شده، و هم‌چنین مزایا و محدودیت‌های آن‌ها مورد بحث و بررسی قرار خواهند گرفت. 

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2- طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس
 1-2- آنالیز کیفی
 2-2- آنالیز کمی
 3-2- پروفیل عمقی
 4-2- محدودیت‌ها
3- طیف‌سنجی الکترون اوژه
 1-3- آنالیز کیفی
 2-3- آنالیز کمی
 3-3- اطلاعات شیمیایی
 4-3- پروفیل عمقی
 5-3- محدودیت‌ها
نتیجه گیری

 


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
ارسال نظر