تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM بخش اول

تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM بخش اول
سطح مقاله

پیشرفته 2
کلمات کلیدی

میکروسکپ الکترونی روبشی SEM
مورفولوژی
توپوگرافی
سطح
امتیاز کاربران

۴ امتیاز از ۵ (۳ رای)

تحلیل و کاربرد داده ها و تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM بخش اول

میکروسکوپ الکترونی روبشی (Scanning Electron Microscope; SEM) یک دستگاه پیشرفته است که به‌طور گسترده‌ای برای مشاهده پدیده‌های سطحی مورد استفاده قرار می‌گیرد. نمونه‌ مورد مطالعه با استفاده از الکترون‌های پرانرژی در میکروسکوپ الکترونی روبشی تحت تصویربرداری قرار گرفته و الکترون‌ها/اشعه ایکس خروجی مورد بررسی قرار می‌گیرند. الکترون‌ها/اشعه ایکس خروجی حاوی اطلاعاتی درباره توپوگرافی، مورفولوژی، ترکیب شیمیایی، جهت دانه‌ها، اطلاعات کریستالوگرافی و غیره هستند.  در این مقاله، به طور مفصل به تحلیل تصاویر حاصل از میکروسکوپ الکترونی روبشی، و اطلاعاتی که می‌توان از هر تصویر به‌دست آورد، پرداخته می‌شود.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1-مقدمه
2-اطلاعات تصاویر حاصل از الکترون‌های ثانویه
1-2- تعیین مورفولوژی سطحی
2-2- بررسی سطح مقطع
3-2- بررسی سطح شکست
4-2- بررسی خوردگی
5-2- بررسی‌های تریبولوژیکی
3-   اطلاعات تصاویرحاصل ازالکترون‌های برگشتی
نتیجه گیری


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - [1] Borrajo-Pelaez, Rafael,Peter Hedström. "Recent developments of crystallographic analysis methods in the scanning electron microscope for applications in metallurgy." Critical Reviews in Solid StateMaterials Sciences 43, no. 6 (2018): 455-474.
۲ - [2] Sneddon, Glenn C., Patrick W. Trimby,Julie M. Cairney. "Transmission Kikuchi diffraction in a scanning electron microscope: A review." Materials ScienceEngineering: R: Reports 110 (2016): 1-12.
۳ - [3] Smith, K. C. A.,C. W. Oatley. "The scanning electron microscopeits fields of application." British Journal of Applied Physics 6, no. 11 (1955): 391.
۴ - [4] Muscariello, Livio, Francesco Rosso, Gerardo Marino, Antonio Giordano, Manlio Barbarisi, Gennaro Cafiero,Alfonso Barbarisi. "A critical overview of ESEM applications in the biological field." Journal of cellular physiology 205, no. 3 (2005): 328-334.
۵ - [5] Baba-Kishi, K. Z. "Review Electron backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope for crystallographic analysis." Journal of materials science 37, no. 9 (2002): 1715-1746.
۶ - [6] Vida-Simiti, Ioan, N. Jumate, I. Chicinas,G. Batin. "Applications of scanning electron microscopy (SEM) in nanotechnologynanoscience." Rom. J. Phys 49, no. 9-10 (2004): 955-965.
۷ - [7] Cortadellas i Raméntol, Núria, Eva Fernández,Almudena Garcia. "Biomedicalbiological applications of scanning electron microscopy." Capítol del llibre: Handbook of instrumental techniques for materials, chemicalbiosciences research, Centres Científics i Tecnolōgics. Universitat de Barcelona, Barcelona, 2012. Part III. Biosciences technologies (BT), BT. 3, 10 p. (2012).
۸ - [8] Akhtar, Kalsoom, Shahid Ali Khan, Sher Bahadar Khan,Abdullah M. Asiri. "Scanning Electron Microscopy: PrincipleApplications in Nanomaterials Characterization." In Handbook of Materials Characterization, pp. 113-145. Springer, Cham, 2018.
۹ - [9] Kejzlar, Pavel, Martin Švec,Eva Macajová. "The usage of backscattered electrons in scanning electron microscopy." Manufacturing Technology 14, no. 3 (2014): 333-336.
ارسال نظر