میکروسکوپ تونلی روبشی STM- بخش اول

میکروسکوپ تونلی روبشی  STM- بخش اول
سطح مقاله

پیشرفته 1
کلمات کلیدی

میکروسکپ تونلی روبشی STM
امتیاز کاربران

۵ امتیاز از ۵ (۱ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۱,۶۱۴
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۱۸۴
  • تعداد افراد شرکت کننده ۲۶
 
 

میکروسکوپ تونلی روبشی STM- بخش اول

در تقسیم‌بندی میکروسکوپ‌های پروبی روبشی، اولین میکروسکوپی که مورد بحث قرار خواهد گرفت، میکروسکوپ تونلی روبشی است. در این مقاله ضمن بیان اصول دستگاهی، نحوه عملکرد آن و مدهای کاری قابل استفاده توضیح داده می‌شوند. با توجه به پدیده کوانتومی تونل‎زنی، برخی روابط محاسباتی حوزه مذکور نیز مطرح می‌شود. همچنین در این مقاله به معرفی کلیات مطرح در این دسته از میکروسکوپ‌ها پرداخته خواهد شد.

این مقاله شامل سرفص‌های زیر است:
1- مقدمه
2- تاریخچه

3- دامنه کاربرد میکروسکوپ تونلی رویشی
4- سیستم دستگاهی میکروسکوپ تونلی رویشی
نتیجه‌گیری



لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Bharat Bhushan, "Springer Handbook of Nanotechnology", USA, Springer, (2004).
۲ - علیرضاذوالفقاری،محمدالماسی،پیروزمرعشی،مهردادنجبا،امیدسیفی،"میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن"،تهران،پیکنور، (1385).
۳ - B. Bhushan, O. Marti, "Scanning Probe Microscopy – Principle of Operation, Instrumentation,Probes" , NanotribologyNanomechanics, Springer, (2011).
۴ - . E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
۵ - G. Binnig, H. Rohrer, C. Gerber, E. Weibel, Surface studies by scanning tunneling microscopy, Phys. Rev. Lett. 49, 57–61 (1982).
۶ - J. Foster, J. mer, Imaging of liquid crystal using a tunneling microscope, Nature 333, 542–547 (1988).
۷ - G. Binnig, C.F. Quate, C. Gerber, Atomic force microscope, Phys. Rev. Lett. 56, 930–933(1986).
۸ - G. Binnig, C. Gerber, E. Stoll, T.R. Albrecht, C.F. Quate, Atomic resolution with atomic force microscope, Europhys. Lett. 3, 1281–1286 (1987).
۹ - K. Yamanaka, H. Ogisco, O. Kolosov, Ultrasonic force microscopy for nanometer resolution subsurface imaging, Appl. Phys. Lett. 64, 178–180 (1994).
۱۰ - P.K. Hansma, J. Tersoff, Scanning tunneling microscopy, J. Appl. Phys. 61, R1–R23 (1987).
۱۱ - D. Sarid, V. Elings, Review of scanning forcemicroscopy, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 431–437 (1991).
۱۲ - U. Durig, O. Zuger, A. Stalder, Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methodsapplications, J. Appl. Phys. 72, 1778–1797 (1992).
۱۳ - J. mer, Scanning tunneling microscopyatomic force microscopy in organic chemistry, Angew. Chem. Int. Ed. 31, 1298–1328 (1992).
۱۴ - H.J. Guntherodt, R. Wiesendanger (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy I: General PrinciplesApplications to CleanAdsorbate-Covered Surfaces (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۱۵ - R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy II: Further ApplicationsRelated Scanning Techniques (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
۱۶ - D.A. Bonnell (Ed.), Scanning Tunneling Microscopyand Spectroscopy – Theory, Techniques,Applications (VCH, New York 1993).
۱۷ - O. Marti, M. Amrein (Eds.), STMSFM in Biology (Academic, San Diego 1993).
۱۸ - J.A. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy (Academic, Boston 1993) 102. H.J. Guntherodt, D. Anselmetti, E. Meyer (Eds.), Forces in Scanning Probe Methods (Kluwer, Dordrecht 1995).
۱۹ - Y. Martin, C.C. Williams, H.K. Wickramasinghe, Atomic force microscope-force mappingprofiling on a sub 100A ˚ scale, J. Appl. Phys. 61 4723–4729 (1987).
۲۰ - F.J. Giessibl, C. Gerber, G. Binnig, A low-temperature atomic force/scanning tunneling microscope for ultrahigh vacuum, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 984–988 (1991).
۲۱ - V.N. Koinkar, B. Bhushan, Microtribological studies of unlubricatedlubricated surfaces using atomic force/friction force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. A 14, 2378–2391 (1996).
۲۲ - H.J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikor, H.J. Guntherodt, Low temperature magnetic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920–2925 (1993).
۲۳ - C. Basire, D.A. Ivanov, Evolution of the lamellar structure during crystallization of a semicrystalline-amorphous polymer blend: Time-resolved hot-stage SPM study, Phys. Rev. Lett. 85, 5587–5590 (2000).
۲۴ - H. Liu, B. Bhushan, Investigation of nanotribological properties of self-assembled monolayers with alkylbiphenyl spacer chains, Ultramicroscopy 91, 185–202 (2002).
۲۵ - D. Smith, H. Horber, C. Gerber, G. Binnig, Smectic liquid crystal monolayers on graphite observed by scanning tunneling microscopy, Science 245, 43–45 (1989).
۲۶ - . D. Smith, J. Horber, G. Binnig, H. Nejoh, Structure, registryimaging mechanism of alkylcyanobiphenyl molecules by tunnelling microscopy, Nature 344, 641–644 (1990).
۲۷ - Y. Andoh, S. Oguchi, R. Kaneko, T. Miyamoto, Evaluation of very thin lubricant films, J. Phys. D 25, A71–A75 (1992).
۲۸ - Paolo Samori, "Scanning Probe Microscopies Beyond Imaging", WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim, (2006).
۲۹ - http://www.nobelprize.org/educational.
۳۰ - E. Delawski, B.A. Parkinson, "Layer-by-layer etching of two-dimensional metal chalcogenides with the atomic force microscope", J. Am. Chem. Soc. 114, 1661–1667 (1992).
۳۱ - B. Drake, C.B. Prater, A.L. Weisenhorn, S.A.C. Gould, T.R. Albrecht, C.F. Quate, D.S. Cannell, H.G. Hansma, P.K. Hansma, Imaging crystals, polymersprocesses in water with the atomic force microscope, Science 243, 1586–1589 (1989).
۳۲ - B. Bhushan, G.S. Blackman, Atomic force microscopy of magnetic rigid disksslidersits applications to tribology, ASME J. Tribol. 113, 452–458 (1991).
۳۳ - O. Marti, B. Drake, P.K. Hansma, Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: atomic resolution images, Appl. Phys. Lett. 51, 484–486 (1987).
۳۴ - K.S. Birdi, "Scanningprobe microscopes : applications in sciencetechnology",USA, (2003).
۳۵ - J. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.),"Scanning Tunneling Microscopy", Academic Press, (1993).
۳۶ - G. Binnig, H. Rohrer, Scanning tunnelling microscopy, Surf. Sci. 126, 236–244 (1983).
۳۷ - A. V.Clemente, K. Gloystein, N. Frangis, "Principles of Atomic Force Microscopy(AFM)", Physics of Advanced Materials Winter School, (2008).
۳۸ - http://www.sho.espci.fr.
۳۹ - R.L. Nicolaides, W.E. Yong, W.F. Packard, H.A. Zhou, Scanning tunneling microscope tip structures, J. Vac. Sci. Technol. A 6, 445–447 (1988).
۴۰ - J.P. Ibe, P.P. Bey, S.L. Brandon, R.A. Brizzolara, N.A. Burnham, D.P. DiLella, K.P. Lee, C.R.K. Marrian, R.J. Colton, On the electrochemical etching of tips for scanning tunneling microscopy, J. Vac. Sci. Technol. A 8, 3570–3575 (1990).
ارسال نظر