10- معرفی سیستم های طبقه بندی اسناد پتنت

10- معرفی سیستم های طبقه بندی اسناد پتنت
سطح مقاله

تخصصی
نویسندگان

مهدی عطاپور
( نویسنده )

کلمات کلیدی

مسابقه ملی فناوری نانو
امتیاز کاربران

۴ امتیاز از ۵ (۲ رای)

 
 
آمار مقاله

  • بازدید کل ۶,۸۸۱
 
آمار آزمون مقاله

  • کل شرکت کنندگان ۱۰۷
  • تعداد افراد شرکت کننده ۲۲
 
 

10- معرفی سیستم های طبقه بندی اسناد پتنت

هر چند آمار دقیقی در مورد تعداد اسناد پتنتی که از آغاز سیستم پتنت منتشر شده است، وجود ندارد، اما می‌توان پیش‌بینی کرد که امروز بیش از 80 میلیون سند پتنت در جهان وجود دارد. این تعداد روز به روز در حال افزایش است؛ مثلاً بر طبق آمار وایپو در سال 2006 میلادی، سالانه حدود 2 میلیون سند پتنت، به صورت تقاضانامه و گرنت شده، به زبان‌های مختلف منتشر می‌شود. این حجم عظیم پتنت، غنی از اطلاعات علمی و فناورانه است. اما زمانی از این منبع عظیم می‌توان به نحو بهینه بهره‌برداری کرد که بتوان پتنت‌ها را به راحتی جستجو و بازیابی کرد. بنابراین نیاز هست که این پتنت‌ها به صورت نظام‌مند سامان‌دهی شود. بدین منظور تاکنون چندین سیستم طبقه‌بندی پتنت ارائه شده است. در این مقاله سیستم‌های مختلف طبقه‌بندی پتنت از قبیل سیستم طبقه‌بندی بین‌المللی پتنت (IPC)، سیستم طبقه‌بندی مشترک پتنت (CPC)، سیستم طبقه‌بندی اروپا (ECLA)، سیستم طبقه‌‎بندی پتنت آمریکا (USPC)، سیستم طبقه‎بندی پتنت آلمان (DPK و DEKLA) و سیستم طبقه‌بندی ژاپن (FI و F-terms) معرفی خواهد شد. در مقالات بعدی، سیستم‌های طبقه‌بندی که بیشتر مورد توجه هستند، یعنی IPC و CPC، با تفصیل بیشتر بیان خواهد شد. سپس روش‌ سیستماتیک و نیز روش‎ها و ابزارهای کمکی موجود از قبیل فهرست کلمات راهنما، ابزار Search Terms، ابزار IPCCAT و روش پتنت‎های مشابه برای استخراج کد طبقه‎بندی یا انجام طبقه‎بندی یک سند پتنت با ذکر مثال تشریح خواهد شد.

این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- مقدمه
2- طبقه‌بندی پتنت
3- سیستم طبقه‌بندی بین‌المللی پتنت، IPC

4- سیستم طبقه‌بندی مشترک پتنت، CPC
5- سیستم طبقه‌بندی اروپا، ECLA
6- سیستم طبقه‌بندی پتنت آمریکا، USPC
7- سیستم طبقه‎بندی پتنت آلمان، DPK و DEKLA
8- سیستم طبقه‌بندی ژاپن، FI و F-terms


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
ارسال نظر