كاربرد میکروسکوپ نیروی اتمی/ رامان در شناسايي مواد - بخش دوم

كاربرد میکروسکوپ نیروی اتمی/ رامان در شناسايي مواد - بخش دوم
سطح مقاله

پیشرفته 2
کلمات کلیدی

محدودیت تفرق
پراکندگی رامان
میدان تقویت شده
پلاسمون‌های سطحی
میكروسكوپ نیروی اتمی
امتیاز کاربران

امتیاز از ۵ (۰ رای)

كاربرد میکروسکوپ نیروی اتمی/ رامان در شناسايي مواد - بخش دوم

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) به‌عنوان ابزاری بسیار قدرتمند برای تعیین مشخصات سطوح و مواد در مقياس نانو توسعه یافته است. اثر رامان (پراکندگی غیرکشسان نور) اطلاعات وسیعی درباره ترکیب شیمیایی نمونه، کیفیت ساختار بلوری، جهت‌گیری بلور، شناسایی نقص یا ناخالصی در بلور و ساير موارد را در اختیار قرار می‌دهد. تلفيق AFM و رامان، یکی از آخرین روش‌های جفت شده تصویربرداری و تجزیه و تحلیل ترکیب شیمیایی مواد به شمار می‌رود. امروزه، رامان/AFM به‌عنوان یک ابزار ارزشمند برای زیست‌شناسان، شیمی‌دانان، شرکت‌های داروسازی، طراحان مواد جدید به‌خصوص در نانوفناوری مورد استفاده قرار می‌گیرد تا رابطه بين اطلاعات شیمیایی و خواص فیزیکی نظير خواص مکانیکی، الکتریکی، مغناطیسی و توزیع فاز مشخص شود.
بخش اول این مقاله سرفصل‌های طیف‌سنجی رامان، طیف‌سنجی رامان تقویت شده بر سطح و طیف‌سنجی رامان تقویت شده بر سوزن مورد مطالعه قرار گرفت.


این مقاله شامل سرفصل‌های زیر است:
1- میکروسکوپ نیروی اتمی
2- میکروسکوپ نیروی اتمی/ رامان
3- کاربردها
4- نتیجه‌گیری

 
این مقاله از مجموعه مقالات فصل نامه شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی سال 2016 شماره 14 برگرفته شده است. برای دسترسی به مراکز خدمات دهنده آنالیزهای AFM و طیف سنجی رامان به ترتیب بر روی لینک‌های زیر کلیک کنید.
 
          


لطفا برای مشاهده متن کامل مقاله ابتدا وارد سایت شوید
منابـــع و مراجــــع
۱ - Tip-enhanced near-field optical microscopy, Nina MauserAchim Hartschuh, Chem. Soc. Rev., 43, 1248, 2014
۲ - Applied Scanning Probe Methods V NanoScienceTechnology, Pietro Giuseppe Gucciardi, Sebastiano Trusso, Cirino Vasi, Salvatore Patanè, Maria Allegrini, Springer, 2007, pp 287-329
۳ - Principle of Instrumental Analysis, D. A. Skoog, D. M. West Holt, Saunders college publishing, six editions, 1994
۴ - Raman spectra of pyridine adsorbed at a silver electrode, M. Fleischmann, P. J. Hendra, A. J. McQuillan, Chemical Physics Letters, Volume 26, Issue 2, 1974, p. 163-166.
۵ - The discovery of surface-enhanced Raman scattering, A. James McQuillan, Notes Rec. R. Soc. (2009) 63, 105–109
۶ - http://en.wikipedia.org/wiki/HOMO/LUMO
۷ - Near-Field Fluorescence Microscopy Based on Two-Photon Excitation with Metal Tips, E. Sánchez, L. Novotny, X. Sunney, PHYSICAL REVIEW LETTERS, VOLUME 82, NUMBER 20, 1999
۸ - Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical MicroscopyNanoscratching application to Rough Natural Surfaces, G. Kaupp, Springre, 2006
۹ - Tip-enhanced Raman spectroscopy: near-fields acting on a few molecules, B. Pettinger, P. Schambach, CJ. Villagómez. Annu Rev Phys Chem. 63, 379-99, 2012
۱۰ - Spectroscopy: Near-Fields Acting on a Few Molecules, Institute of the Max Planck Society, Phys. Chem. 63:17.1–17.21, 2012
۱۱ - Raman microscopy: Taking chemical microscopy to the next level, B. Foster. Am. Lab. 2003, 35(8), 18–23
۱۲ - www.microscopy-today.com, AFM + Raman Microscopy + SNOM + Tip-Enhanced Raman: InstrumentationApplications
ارسال نظر